PSC公司成立于2004年，2年后其首款产品植物根系X-光扫描成像分析系统RootViz FS面世，并于今年6月获得2006年度美国R&D 100大奖。RootViz FS是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统，用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析，可以拍摄根系的立体X-光照片。是继根视系统后植物根系研究领域zei激动人心的发明。美国R&D 100大奖被称为"发明界的奥斯卡奖"，RootViz FS刚一面世即获此大奖，足见其影响力之大。

这套系统是植物根系研究领域继根视（rhizotron）系统（如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系统）后zei激动人心的发明。根视系统需要将根取出清洗后，借助扫描仪进行分析，这个过程往往会折断植物的根尖等脆弱部分，而且属于离体分析，不能进行动态监测。而植物根系X-光扫描分析系统是非破坏性的原位分析系统，可以全方位分析植物根系所有部分（包括根尖等），并且可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监测。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应。

根系X-光成像的特性
* 高分辨率的X-光立体成像
* 进行长期动态监测
* 获得原位根系角度信息
* 完全可控条件下的生理、病理实验
* 大规模快速筛选根系突变株

根系X-光扫描成像系统的主要技术参数
* X-射线发生器: 25KeV@800uA
* X-射线数码相机: 2002 x 2054 CMOS；GdOs Scintillator
* 精确的三维调节工作台
* 速度：平面图25株/h；立体图15株/h
* 范围：zei大根长0.6 m；zei大高度2.1 m
* 分辨率：2002×2054像素

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途