光谱椭偏仪

世界级高精度光谱椭偏仪！荣获 the award of Best of Boston and Best of Braintree for Optical Instruments and Apparatus!

可以精确测量折射指数、消光系数（n & K)，膜厚等，广泛适用于半导体、电介质、聚合物、金属等材料，单层薄膜和多层膜。著名客户包括US Army Research Lab，NASA，NIST，UC Berkeley，MIT，Harvard，Honeywell和Sharp Microelectronics等；

根据客户需求，可提供不同型号：

变角度单波长椭偏仪（632.8nm）；

变角度多波长椭偏仪（532, 632.8, 1064nm, …）；

变角度光谱椭偏仪（深紫外、紫外-可见-近红外光谱190-2300nm）；

全自动变角度光谱椭偏仪（深紫外、紫外-可见-近红外光谱190-2300nm）；

红外光谱椭偏仪等；

膜厚范围：0-30000nm
折射指数：± 0.0001
厚度准确度：± 0.01nm
入射角度：20 - 90°
波长范围：250-1100nm（深紫外、近红外、红外可选）
Psi=±0.01°，Delta=±0.02°

光谱范围：UV/VIS range 250 - 1100 nm，可选扩展光谱范围NIR (700 - 1700 nm) or (700 - 2100 nm)、UV-VIS 范围(190 - 1100 nm) ；

自动旋转起偏器可精确测量任意偏振状态；

步进扫描分析仪可高速采集低噪音信号；

可变角度范围：from 10-90°，可升级为自动变角度10-90°控制 ；

单层薄膜/多层薄膜快速薄膜厚度、折射率测量；

专业测试软件可大范围Psi和Delta数据自动测量，并对测试数据进行采集和分析，内置几百种材料数据库；

可扩展二维自动扫描平台，实现(50X50mm, 100X100mm, 150X150mm or 200X200mm)Mapping测量功能以及3D分析；

荣获 the award of Best of Boston and Best of Braintree for Optical Instruments and Apparatus!

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途