赛默飞分子光谱仪器

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Nexsa X射线光电子能谱仪

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参考报价: 面议 型号: Nexsa
品牌: 赛默飞 产地: 英国
关注度: 43 信息完整度:
样本: 暂无样本 典型用户: 暂无
产地属性欧洲

Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统在提供全自动、高通量的多技术分析的同时,保持研究级的高质量分析检测结果。集成ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术于一身,用户因此能够进行真正意义上的联合多技术分析,从而为微电子、超薄薄膜、纳米技术开发以及许多其他应用进一步取得进展释放潜能。


材料分析和开发
 

Nexsa 能谱仪具有分析灵活性,可最大限度地发现材料潜能。在使结果保持研究级质量水平的同时,以可选多技术联合的形式提供灵活性,从而实现真正意义上多技术联合的分析检测和高通量。


标准化功能催生强大性能: 

·         绝缘体分析

·         高性能XPS性能

·         深度剖析

·         多技术联合

·         双模式离子源,使深度剖析功能得到扩展

·         用于 ARXPS 测量的倾斜模块

·         用于仪器控制、数据处理和报告生产的 Avantage 软件

·         小束斑分析

可选的升级:可将多种分析技术集成到您的检测分析中。触动按钮即可运行。 

·         ISS:离子散射谱,分析材料最表面1-2原子层元素信息,通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。

·         UPS:紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息

·         拉曼:拉曼光谱技术用于提供分子结构层面的指纹信息

·         REELS:反射电子能量损失谱可用于H元素含量的检测以及材料能级结构和带隙信息

 

SnapMap
 借助 SnapMap 的光学视图,聚焦于样品特征。光学视图可以帮助您快速定位感兴趣区域,同时生成完全聚焦的 XPS 图像,以进一步设置您的实验。 

1.X 射线照射样品上的一个小区域。

2.收集来自这一小区域的光电子并将其收集于分析仪

3.随着样品台的移动,不断收集元素图谱

4.在整个数据采集过程中监测样品台位置,这些位置的图谱成像用来生成 SnapMap 


应用领域 

·         电池

·         生物医药

·         催化剂

·         陶瓷

·         玻璃涂层

·         石墨烯

·         金属和氧化物

·         纳米材料

·         OLED

·         聚合物

·         半导体

·         太阳能电池

·         薄膜

注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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