WLI Infra干涉仪德国BMT WLI Infra干涉仪是用于硅薄膜的厚度测量设备。仪器适用于实验室、车间和生产线上的质量管理。测量头提供空前的重复性，设计......
德国BMT WLI VLA干涉仪德国BMT WLI VLA干涉仪可快色准确的测量粗糙和镜面反射工件的表面轮廓。可用于测量平整度、波纹度、扭曲、台阶高度和多种其他......
德国BMT WLI白光干涉仪 采用ACM 600 共焦显微镜可对物体的表面和结构进行......
WLI测量系统是为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度、微观结构和其它表......
特点： · 测量范围：100/150 µm · 横向分辨率：≥0.2 µm &midd......
WLI LA 白光干涉仪 本仪器比以往的显微镜可测面积大得多，使用者需在大测量面积和大数值孔径之间进行适当平衡。数值孔径决定了横向分......
通用剖面测量仪 设备可准确快速测量表面轮廓，......
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