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工商注册信息已核实!参考报价: | 面议 | 型号: | WLI Infra |
品牌: | BMT | 产地: | 德国 |
关注度: | 19 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
产地类别 | 进口 | 供应商性质 | 一般经销商 |
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WLI Infra干涉仪
德国BMT WLI Infra干涉仪是用于硅薄膜的厚度测量设备。仪器适用于实验室、车间和生产线上的质量管理。测量头提供空前的重复性,设计坚固紧凑、免维护,适用于在线测量。
产品特点:
MEMS、硅梁、透明薄材料的非接触高精度厚度测量;
纳米级分辨率;
手动或自动测量步骤设计,简单易用;
不受温度变化和热效应的影响;
极佳的重复性;
可配备表面轮廓测量。
技术参数:
厚度分辨率(nm) <1
探针大小 (μm) 约150(可定制)
厚度范围 (μm) 0.1-600
仪器尺寸 (mm) 320x320x380
重量 (kg) 120
晶圆夹具 定制,可达30cm
全自动测量
标准或定制的软件包
进口德国BMT WLI Infra干涉仪信息由佰汇兴业(北京)科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于进口德国BMT WLI Infra干涉仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途