仪器简介：

标准模式
工业规格
自动调焦
防震台
自动的X-Y平台

技术参数：

活动面积：864 x 648㎛ / 86.4 x 64.8㎛
波长范围：420 ~640 nm
厚度测量范围：350Å~3㎛ 
zei小光斑尺寸：1.35㎛, 0.135㎛
透镜旋转台：5X,50X
可测量层：1
样品台尺寸：200mmX200mm
Z轴可重复性：± 1㎛
Z轴自动调节结构：
Z direction Head Movement 
Travel range : 50mm 
Max. velocity : 50mm/s

主要特点：

非接触式，非破坏式
可测量亚微米光斑
实样监控
易操作界面


应用领域：

专用于测量PCB/PWB板的铜箔表面的OSP厚度。

OSP薄膜测量仪信息由科美仪器(昆山)研发有限公司为您提供，如您想了解更多关于OSP薄膜测量仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途