您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?

稍后再说 立即咨询
深圳市华唯计量技术开发有限公司
400-6699-117转1000
热门搜索:
分析测试百科网 > 华唯计量 > 能量色散X荧光光谱仪 > 镀层厚度检测仪(Ux-700)

镀层厚度检测仪(Ux-700)

非会员

诚信认证:

工商注册信息已核实!
扫一扫即可访问手机版展台
资质证书更多>>

参与国家十一·五科技攻关XRF项目

国家高新技术企业证书

关注华唯公众号
参考报价: 20-30万 RMB(人民币) 型号: Ux-700
品牌: 华唯计量 产地: 深圳
关注度: 196 信息完整度:
样本: 典型用户: 1个
供应商性质生产商产地类别国产
仪器种类台式/落地式能散型XRF价格范围10万-30万
分析含量范围0.003um-50um仪器种类XRF
能量分辨率149eV元素分析范围0.003um-50um
重复性 
咨询留言 在线咨询

400-6699-1171000


产品介绍:

本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量,Ux-700更专业小样品测试腔的设计,带有聚焦光点的准直器,高分辨率的探测系统,众多zei佳条件的选择,保证测试结果的准确性。

X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。

Ux-700镀层测厚检测仪配备了XY轴微移动平台,可以通过鼠标的点击操作,选择样品的多点测试,特别适应于细小结构多种不同镀层材料的测试。

Ux-700镀层测厚仪具有高清晰、高放大倍数的摄像设备,测试样品的部位清楚明了,同时摄像设备拍抓测试部位的图片,和测试数据结果一同出现在测试报告中。

Ux-700镀层测厚仪采用了华唯zei新专利技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度。

 

产品指标:

测厚技术:X射线荧光测厚技术

测试样品种类:金属镀层,合金镀层

测量下限:0.003um

测量上限:30-50um(以材料元素判定)

测量层数:10层

测量用时:30-120秒

探测器类型:Si-PIN电制冷   

探测器分辨率:149eV

高压范围:5-50Kv,50W

X光管参数:5-50Kv,50W,侧窗类;

光管靶材:Mo靶;

滤光片:专用镀层滤光片

CCD观察:260万像素

微移动范围:XY15mm

输入电压:AC220V,50/60Hz

测试环境:非真空条件

数据通讯:USB2.0模式

准直器:Ø0.5mm

软件方法:FlexFP-Mult

工作区:开放工作区 自定义

样品腔:70*20mm

整机重量:38kg

 

镀层测厚方法:

1.磁性涂层测厚法

使用磁性测厚法可测铁、钢导磁金属上面的所有非导磁金属和所有非导电层的厚度,如铁上镀铜、锌、铬、金、银等,涂的油漆、塑料、橡胶、磷化膜、玻璃钢等。

2.涡流层层测厚法

可以测量非导磁导电金属上面非导电涂层的厚度,如不锈钢、铜、铝金属上的油漆层、氧化膜、磷化膜、玻璃钢、橡胶等图层的厚度

3.X射线荧光法

所有金属材料/非金属材料上单金属成分、2元或多元合金材料的单层和多层厚度的测试,同时可以测试镀层材料的合金成分含量比例。

 

常用单位:

微米(um),微英寸(u‘’)俗语“迈”,密耳(mil)

1um=39.4迈,  1um=0.04mil


 为什么选择华唯?

  一、技术的传承者:
华唯技术团队从1986年开始承担并圆满完成了三项中国政府XRF科技攻关项目---国家“七五”科技攻关项目(EDXRF)、国家“九五”科技攻关项目(WDXRF)、国家“十一五”科技支撑项目(偏振二次靶EDXRF)...
   
  二、标准的制定者:
參与修订国际电工委员会IEC62321标准(即国际RoHS标准);通讯产品中有毒有害物质检测标准(即中国RoHS标准)制定成员;中国水泥分析方法GB/T176-2008标准的制定者等...
   
  三、行业的引领者:
偏振二次靶技术专利,利用X射线荧光无损快速分析原理,搭载华唯独创的Visual FP基本参数法分析软件,能够快速准确对样品进行全元素成分分析,zei快3秒完成检测,业内第一。并独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,业内唯一,引领行业持续发展...
   
  四、服务的践行者:
原厂配件,原厂服务,终身维修,2小时快速反应,工作曲线定制及专家审图解谱服务,全面快速解决您遇到的问题...
   
 研发实力:

 刘小东,华唯研发总监
1991年毕业于北京大学物理系,1995年获中国建筑材料科学研究院无机非金属材料专业工学硕士学位。参与并担任国家“九五”科技攻关X荧光光谱仪攻关课题副组长和软件负责人,以及国家“十一五” 科技攻关项目XRF课题研发。获得“X荧光分析对有毒有害物质实时检测及控制系统”专利和“偏振二次靶能量色散型X射线荧光光谱仪”专利。作为我国zei早的XRF技术项目的核心专家成员,长期在该领域从事技术研发和产业化工作,并逐步成长为我国XRF技术的zei权威人士。
   
 白友兆博士,首席技术总工程师
1962年毕业于西安交通大学物理系反应堆工程专业,1982年赴日本东京大学工学部进行X射线荧光化学状态分析技术和高分辨X荧光光谱学研究,获博士学位。1984年回国后在中国建筑材料科学研究院工作,主要从事X荧光分析技术和工业过程自动控制技术等研究,并参与国家“七五”“九五”科技攻关,获得“多元素同位素X射线荧光分析仪”发明专利、“同位素X荧光水泥多种成分分析仪”专利和“用于同定性X荧光光谱仪的等光程双弯晶固定元素道分光器”专利,使X荧光多元素分析仪达到国际先进水平,是我国XRF行业带头人。
   
 六大技术优势:

 一、FP基本参数法
基本参数法(FP法)是根据X射线荧光强度与元素含量、厚度等的函数关系,应用核物理、应用数学、计算机等领域内的前沿研究成果,依据X射线荧光激发样品物理机制所提供的数学校正方法,该测试方法适用于分析无标样或少标样的样品,在合金、陶瓷、多元半导体材料、考古、地质样品领域有广泛应用空间。
   
 二、偏振二次靶技术
X射线经偏振靶偏振后,再作为激发光源照射到样品上,可以保证待测元素zei佳激发状态,并减少散射和干扰,从而大大降低背景,提高测试灵敏度和信噪比。
   
 三、超短光路设计
由X射线发生器到达样品,样品受激发产生的X射线荧光到探测器的路线称之为光路。光路经过的距离越短所受到的干扰就越少,华唯以30年XRF领域研发积淀为基础,结合华唯人对XRF技术领域的卓越领悟力,华唯计量设计出超短光路技术,确保轻元素检测结果的准确性,特别适合于环保无卤指令检测。
   
 四、精密机械设计
真正做到了微米级定位,微区扫描分析,空间微米级光斑的点对点对中及空间微焦斑位置的确定。一种平动与旋转切换位置装置,实现了小空间内的位置旋转切换,避免了直线运动所需要的大空间以及常用旋转运动,因为无法贴合导致的光程加长等问题。
   
 五、无标样技术
XRF测试分析仪器一般都是采用针对标准样本进行比对测试,在测试时受制于标样的质量。华唯集结30年的技术积累,独创无标样技术,无需标样即可进行全元素分析,业内唯一,华唯引领行业持续发展。
   
 六、二次滤光技术
采用行业领先的二次滤光技术,测试金属样品中的管控元素精度明显提高了1倍,同时灵活的滤光机构设计,可根据客户需求的侧重而定制滤光系统。
   
 荣誉证书:

国家“十一五”科技攻关中:华唯公司承担国家科技支撑计划子课题任务
   
     
科技进步奖:
   
国家科技进步三等奖(国家级) 建设部科技进步二等奖(部级)  





高新企业证书:    
   
国家高新技术企业证书 深圳高新技术企业证书  





标准制定会员单位:
  
参加欧盟IEC国际RoHS应用标准制定 参与水泥GB/T176-2008标准的制定 中国通信标准(China RoHS)制定会员





专利证书:
  
偏振二次靶能量色散型X射线荧光光谱仪 基于X荧光分析对有毒有害物质实时检测 一种X射线荧光光谱仪的滤光片装置





软件著作权证书:
  
华唯FP(基本参数法)能谱工作站软件 华唯1000W工作站软件V3.0 华唯X荧光能谱分析仪系统软件V8.0





其他证书:
  
莱茵TUV ISO9001质量管理体系认证 辐射安全许可证 放射性同位素与射线装置豁免证书
     
 客户评价:

 创维电视品质部·张经理
XRF作为RoHS检测的zei方便快捷的方式,在电视机整机厂的原材料于元器件结构件质量控制上具有不可替代的优越性;具有无损检测,无需制样,速度快等特点;且可以通过定标曲线从而实现全元素分析与镀层测量;华唯仪器的测试准确度比较高,符合我司的使用要求——2006.8.22
   
 迈瑞医疗采购部·黄经理
通过华唯与日本某品牌进行对比测试,从分析结果来看,偏倚量,重复性及标准差,两台仪器差不多,但是在价格和服务上华唯更有优势,软件是终身免费升级,保修时间还长一倍,售后服务响应时间快,且内部专业人士可迅速到位支持,性价比较高,是个很好的合作伙伴——2009.12.8
   
   

镀层厚度检测仪(Ux-700)信息由深圳市华唯计量技术开发有限公司为您提供,如您想了解更多关于镀层厚度检测仪(Ux-700)报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

镀层厚度检测仪(Ux-700) - 产品新闻
镀层厚度检测仪(Ux-700) - 下载资料
镀层厚度检测仪(Ux-700) - 应用文献
镀层厚度检测仪(Ux-700) - 相关产品
镀层厚度检测仪(Ux-700) - 典型用户
    采购单位名称采购时间采购台数适用领域
    华硕2016-06-1210电子/电器/半导体
移动版: 资讯 直播 仪器谱

Copyright ©2007-2023 ANTPEDIA, All Rights Reserved

京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号