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ICP-OES 分析高浓度钯(Pd)内的微量硒 (Se)
发布时间：
2020-05-26 09:22
来源：
珀金埃尔默企业管理（上海）有限公司
| 领域： | 电子/电器/半导体 | ||
| 样品： | 高浓度钯(Pd) | 项目： | 硒 (Se) |
| 方案文件名 | 下载 |
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ICP-OES 分析高浓度钯(Pd)内的微量硒 (Se) |
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钯(Pd)是目前半导体超微镀金使用的非常重要的元素之一。由于是用于超微镀金，所以主要成分钯(Pd)的准确含量很重要，所含杂质的定量也非常重要。本文建立了利用ICP-OES分析高浓度钯(Pd)内的微量硒 (Se)的解决办法。
