ICPMS的干扰类型与消除技术

来自样品溶液或ICP中的其他物质可能在进样系统、ICP离子源、 接口、四级杆质谱等环节对待测离子的测定结果产生影响，造成 检测结果的失真。 • 进样系统：物理干扰。样品溶液因比重、粘度不同造成进样效率不同。 • ICP离子源：化学与电离干扰。样品基体与待测组分形成稳定化合物，或基体组 分电离影响ICP中的电子密度，影响待测组分的离子产率。 • 接口：空间电荷效应（质量歧视）。样品中基体组分电离形成的大量离子把 待测离子推开导致待测离子传输效率变化。 • 四级杆：质谱干扰。相同质荷比的其他离子影响待测离子的测定。 • 其中前三项可以统称为非质谱干扰（基体效应）。