二维高速投影尺寸测量仪 TM-3000 系列

希望“高精度”且能够“在生产线内”进行“二维”尺寸测量。一向对生产线内测量精益求精的KEYENCE，本次使二维尺寸测量仪的高速化到达一个新的境界。

• 从点到面的二维测量，可同时测量最多16 处的测量范围内设定的测量项目。测量时间大幅缩短。

• 新开发处高速生产线适用的二维专用处理器，使用2 个高速演算CPU 和图像处理专用DSP。

• 高亮度LED 和W 远心光学系统构成的高精度空间。

测量原理：

将绿色LED 光转化为均一的平行光进行照射。检测出二维CMOS 上受光的明暗投影，然后测量其尺寸和角度等。采用只成像平行光的W 远心镜头。即使对象物与镜头之间的位置发生变化，CMOS 上的影像大小并不会改变，所以可以实现高精度测量。

应用：

多点外径和高度差

传统的激光扫描方式 

采用一维透射式扫描进行测量，必须考虑装置的位移精度，因而无法实现高精度测量。

TM-3000 系列 

TM系列采用二维透射式进行测量，无需扫描。只需将工件置于测量范围内便可实现多点外径测量，既提高了精度，又缩短了工时。

测量多点变形

传统的激光扫描方式 

需先将试样从试验机中取出后再用游标卡尺测量，因此测试需要花费大量时间。

TM-3000 系列 

若使用TM系列测量，则可以在给试样施力的同时确认其变形程度，测试时无需将试样从试验机中取出。另外，可在测试进行期间不断追加其他条件，既准确又省时。

定位

传统的激光扫描方式

若测量时所用摄像机及照明设备与测量机器相撞，则需要花费大量时间进行调节。

TM-3000 系列

TM系列运用了透射原理，且测量范围大，调节不费时间，缩短了装置操作工时。

厚度

传统的激光扫描方式

测量时使用两个透射传感器分别感测辊轴和薄膜，因此需要花费时间去设置和调节设备。

TM-3000 系列

若使用TM系列测量，仅需一个传感头即可同时感测辊轴和薄膜，不产生设置误差，同时避免了因振动引起的震颤。在品质和保养上均有改善。

测量多点偏移

传统的激光扫描方式

传统透射式进行多点测量时，除需考虑测量点数×转动时间外，还要算入移至测量点的移动时间。

TM-3000 系列

若使用TM系列，仅需从二维数据中选定测量点，即可实现测量。多点偏移测量完全同步且一次完成，大大缩短作业时间。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途