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X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
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仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法,但与X射线能谱形成对比的是,传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品,而TXRF采用毫弧度的临界角(......
HORIZON
仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法,但与X射线能谱形成对比的是,传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品,而TXRF采用毫弧度的临界角(......
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HORIZON 全反射X荧光光谱仪 应用于法医学领域样品中的每一种元素会放射出的二次X射线,并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放......
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HORIZON 全反射X荧光光谱仪 应用于染料分析领域能量发散X光荧光分析仪(简称EDXRF:Energy-Dispersive X-Ray Fluoresce......
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HORIZON 全反射X荧光光谱仪 应用于半导体材料领域(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线(一次射线),激励被测样品。样......
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HORIZON 全反射X荧光光谱仪  应用于油品分析领域全反射X-光荧光分析仪(Total-reflection X-ray Fl......
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TX 2000 全反射X荧光光谱仪 应用于核材料工业领域仪器简介TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法,但与X射线能谱形成对比的是,传统能谱采用原级......
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TX 2000 全反射X荧光光谱仪 应用于化学纯度分析领域通常,仅需将样品溶液或悬浊液置于支撑的光学平面上(如石英玻璃),蒸干后,残留物上机检测。因平面的高反射......
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TX 2000 全反射X荧光光谱仪 应用于制药分析领域EDXRF中X射线的出入射角度通常约为40度,分析深度通常发生在近表层100μm左右,有较强的背景及基体影......
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TX 2000 全反射X荧光光谱仪 应用于环境分析领域X射线荧光(XRF)是当原级X射线照射样品时,受激原子内层电子产生能级跃迁所发射的特征二次X射线。该二次X......
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