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PROFILE ICP测定二次盐水痕量杂质
发布时间：
2008-03-02 09:07
来源：利曼中国
| 资料类型： |
| 资料文件名 | 下载 |
|---|---|
49418.pdf |
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由于高浓度NaCl的影响，准确测定二次盐水中的痕量杂质只能使用标准加入法。下面的方法主要针对Leeman Labs公司的Profile，Profile Plus垂直型ICP-AES。
