HeLeeX E8是一款专门RoHS检测仪器，其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF尖端技术，核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告；HeLeeXE8精密度高、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器。

仪器规格：

● 外形尺寸 ：380 mm x 510mm x 365 mm （长x宽x高）

● 样品仓尺寸 ：360mm×330 mm ×50 mm （长x宽x高）

● 仪器重量 ：33.5kg

● 供电电源 ：AC220V/ 50Hz

● 最大功率 ：330W

● 工作温度 ：15-30℃

● 相对湿度 ：≤85%，不结露

应用领域：

各种电子电器产品RoHS检测

●卤素检测

●镀层厚度分析

硬件配置：

RoHS检测仪器探测器

● 类型：X-123 Si-PIN探测器（采用原装进口高性能电致冷半导体探测器）

● Be窗厚度：1mil

● 晶体面积：25mm2

● 最佳分辨率：145eV

RoHS检测仪器X射线管

● 电    压 ：0~50kV

● 最大电流 ：2.0mA

● 最大功率 ：50W

● 靶    材 ：Mo

● Be窗厚度 ：0.2mm

● 使用寿命 ：大于2万小时

高压电源

● 输出电压：0~50kV

● 灯丝电流：0~2mA

● 最大功率：50W

● 纹波系数：0.1%（p-p值）

● 8小时稳定性：0.05%

摄像头

● 微焦距

● 免驱动

● 500万像素

准直器、滤光片

● 快拆卸准直器、滤光片系统

● 多种材质准直器

● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可选

●多种滤光片、准直器组合，软件自动切换

其他配件

●进口高性能开关电源

●进口低噪声、大风量风扇

产品特点：

1.1辐射防护

1.2多规格样品仓

1.3 X-Ray探测器

HeLeeX E8-SPR采用美国完整版（包括探头、前置放大器、主放大电路、数字多道分析器全部原装进口）原装进口一体式X-123半导体X射线探测器，其先进的半导体制冷技术，高峰背比（信噪比），超高计数率，优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点，超越其他品牌或同品牌的组装探测器。

1.4多种规格测试光斑

Ø  HeLeeX E8-SPR采用模块化分体式X射线准直器专利技术，根据用户需求，可快速配置Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3mm、Φ5mm、Φ7mm准直器。满足样品中不同大小点测试需求。

1.5小细节大智慧

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途