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诚信认证:
工商注册信息已核实!参考报价: | 面议 | 型号: | X-123 FAST SDD C2 window |
品牌: | Amptek | 产地: | 美国 |
关注度: | 91 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
仪器种类 | 台式/落地式能散型XRF | 价格范围 | 10万-30万 |
行业专用类型 | 电子产品RoHs |
分析含量范围 | 1ppm-99.99% | 能量分辨率 | 小于140ev |
元素分析范围 | Na~U | 重复性 | 0.1% |
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Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发
x - 123 sdd与c2窗口应用SEM EDS
图1,X -123快速SDD™C2窗口光谱仪结合真空装置
Amptek推出全新SDD探测器,针对扫描电镜能谱仪客户应用(EDS SEM)利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4),能够对低能量区域元素快速响应,新Amptek SDD™可以很好的测试元素碳(C),高效率快速SDD™是EDS光谱仪最理想的方案。
c2窗口传输SEM EDS的应用程序
图2, C2窗口传输效能图
C2 Window Transmission Efficiency 元素C2窗口效能
Transmission | |
---|---|
Li | 29% |
Be | 13% |
B | 19.7% |
C | 43.9% |
N | 59.2% |
O | 62% |
F | 69% |
Ne | 72.9% |
Na | 75.1% |
Mg | 77.3% |
Al | 80.3% |
Si | 81.8% |
碳谱与C2窗口
图3,在真空环境下使用C2窗口快速SDD™,碳(C)元素光谱图
快sdd 55铁谱
图4,使用快速SDD™ 测试Fe55光谱
c2窗口相比,聚合物windows图4,Amptek低能量C2系列窗口对比 聚合物窗口 效能对比图
Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用信息由AMPTEK INC.为您提供,如您想了解更多关于Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途