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Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用

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参考报价: 面议 型号: X-123 FAST SDD C2 window
品牌: Amptek 产地: 美国
关注度: 91 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
仪器种类台式/落地式能散型XRF价格范围10万-30万
行业专用类型电子产品RoHs
分析含量范围1ppm-99.99%能量分辨率小于140ev
元素分析范围Na~U重复性0.1%
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发

x - 123 sdd与c2窗口应用SEM EDS

001.jpg

图1,X -123快速SDD™C2窗口光谱仪结合真空装置


Amptek推出全新SDD探测器,针对扫描电镜能谱仪客户应用(EDS SEM)利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4),能够对低能量区域元素快速响应,新Amptek SDD™可以很好的测试元素碳(C),高效率快速SDD™是EDS光谱仪最理想的方案。

 


c2窗口传输SEM EDS的应用程序

002.jpg

图2, C2窗口传输效能图


C2 Window Transmission Efficiency 元素C2窗口效能

ElementC2 Window
Transmission
Li29%
Be13%
B19.7%
C43.9%
N59.2%
O62%
F69%
Ne72.9%
Na75.1%
Mg77.3%
Al80.3%
Si81.8%



谱与C2窗口

003.png

图3,在真空环境下使用C2窗口快速SDD™,碳(C)元素光谱图

快sdd 55铁谱

004.png

图4,使用快速SDD™ 测试Fe55光谱

c2窗口相比,聚合物windows图4,Amptek低能量C2系列窗口对比 聚合物窗口 效能对比图

 


Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用信息由AMPTEK INC.为您提供,如您想了解更多关于Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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