OSP薄膜测厚仪

ST4080-OSP（有机可焊性保护膜）专用于测量PCB/PWB上铜铂厚度。它属于使用分光反射法的非破坏性光学测量仪，它可提供平均厚度和详细的3D平面轮廓资料，使得实时检测无需任何的样品制备。

由于ST4080-OSP具有测量很小面积与自动聚焦功能，适用于PCB基板表面的实模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度测量技术，而它在半导体，平板显示与其他电子材料行业方面的可靠性得到了证实。

为什么要选择 ST4080-OSP?

ST4080-OSP使用反射测量法提供PCB/PWB表面OSP涂层厚度的非接触和非破坏性实时测量。

ST4080-OSP 无需样品制备，可确保快速和简便操作。

ST4080-OSP测量的光斑尺寸可减小到0.135，这使得它可测量表面粗糙的铜的OSP涂层厚度.

ST4080-OSP 与紫外可见分光计，受迫离子束方法，时序电化学还原分析还有其他的测量方法相比较，它基于更可靠的测量技术。

ST4080-OSP 可获取420nm~640nm范围内的多波长光谱。

ST4080-OSP可提供各点和它们的平均厚度的详细数据，这样可帮助人们更好地控制OSP质量。

ST4080-OSP 通过3D表面形态学将测量程序zei优化。

产品特征：

波长范围：420nm ~ 640nm

厚度测量范围：350A ~ 3um

zei小光斑尺寸：1.35um, 0.135um

目标面积：864X648um / 86.4X64.8um

物镜转动架：5X(spot size 20um), 50X(spot size 0.2um)

测量层：1

固定样台面积：270mm(L) X 240mm(D)

Z轴再现性：±1um

自动Z装置：
Z direction Head Movement

Travel range: 50mm

Max. velocity: 50mm/s

特征：
Non-destructive OSP thickness measurement

No sample preparation for fast and easy operation

Available to detect OSP coating on Cu with rough surface conditions

Auto-focusing function

3D contours results

OSP薄膜测厚仪信息由北京燕京电子有限公司为您提供，如您想了解更多关于OSP薄膜测厚仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途