快速，易于使用，基于光谱反射,为高性价比薄膜或涂层测厚分析系统

广泛应用于：

半导体制造 (PR, Oxide, Nitride..)
液晶显示器(ITO, PR, Cell gap…..)
医学、生物薄膜或材料
印刷油墨，矿物学，颜料，碳粉
光学薄膜 TiO2, SiO2, Ta2O5…..
半导体化合物
功能薄膜在MEMS /微光机电系统 ?
非晶，纳米及结晶硅
太阳能光伏材料涂层

产品规格：
波长范围： 250到1100 nm
光斑尺寸： 500微米至5毫米
样品尺寸： 200x200mm
基板尺寸：zei高达50毫米的厚度
测量厚度范围： 2纳米至50微米
测量时间： 2毫秒zei低
精度：优于0.5 ％
重复性 ：<1 Ǻ

系统配置:
•型号：SR100R
•探测器:2048像素CCD
•光源:大功率氘和卤素光源
•光传递方式：光纤
•载物台：黑色铝合金,可方便调节样品的高度，200mmx200mm大小
•通讯：与计算机的USB
•测量类型：薄膜厚度，反射光谱，折射率
•软件：TFProbe 2.2
•电源：110 - 240伏交流电/ 50 - 60赫兹
•保修：一年主机及配件

易于安装和容易操作的软件视窗
先进的光学设计，zei佳的系统性能
阵列探测器系统，以确保快速测量
测量薄膜厚度和折射率，zei高达5层
可以收集反射，透射和吸收光谱，以毫秒为单位
能够用于实时或在线厚度，折射率监测
系统具有全面的光学常数数据库
先进的TFProbe软件允许用户使用NK表，有效快速的分析测试样品。
可升级到中型（ Microspectrophotometer ）系统，开关磁阻电机绘图系统，多通道测试系统，
直接测量的图案或功能结构
适用于许多不同类型的衬底上不同厚度测量
各种配件供特殊配置，如运行测量的曲面
二维和三维图形输出和良好的用户数据处理界面

光谱反射薄膜测厚系统 型号：SR100信息由北京燕京电子有限公司为您提供，如您想了解更多关于光谱反射薄膜测厚系统 型号：SR100报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途