纳米粒度及Zeta电位仪麦奇克激光粒度仪 油墨中纳米颗粒的表征方法

麦奇克激光粒度仪 Nanotrac wave II参考多项行业标准https://www.dksh-instrument.cn/Solution/263。完成油墨的检测。可以用在日用化学品行业领域中的粒径、Zeta电位、图像分析项目。

当表征某一特定过程种颗粒体系的特性时不仅需要考虑到多方面因素的影响还要考虑到最终的使用。表征颗粒体系时必须要包括但不仅仅局限于以下几点：粒径分布、表面积、孔隙率、形状和颗粒的带电性。实际上，将所有的表征参数结合起来可以让我们对颗粒有更清晰的认识。通过粉体流动性、分散性、药物疗效、干燥涂层效果、悬浮稳定性、油墨质量、金属粉末成粉及金属框架强度、压片问题、污染物识别、颗粒堆积行为、颗粒聚集、反射效率、球度和注塑成型等特性均可以对颗粒特性进行描述和表征。上述表征参数适合所有的材料，但本文我们会以油墨中的纳米颗粒作为例子进行分析（ISO中对与纳米颗粒的定义为：小于100nm的颗粒，但在本文中讨论的粒径小于1000nm）。油墨生产环节主要包括：化学混合、胶体稳定、研磨和稀释，从早期的研发到最后的产品质量，各个环节均有严格的质量控制。

外部环境：

电源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz

环境要求：温度，10-35°C

国际标准：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

主要特点：

• 采用先进的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法

• “Y”型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位， 避免样品交叉污染与浓度变化。

• 异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。

• 可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。

• 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。

• 快速傅利叶变换算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。

• 膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度。

• 无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结果

• 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度。

产品参数

纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术

Zeta电位测量：Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出新一代NANOTRAC WAVE II微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分析技术相比，NANOTRAC WAVE II采用先进的“Y”型光纤探针光路设计，配置膜电极产生微电场，操作简单，测量迅速，无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层，无需外加大功率电场，无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池，完全消除由于空间位阻（不同光学元器件间的传输损失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差异，分散介质的影响，颗粒间多重散射等）带来的光学信号的损失，结果准确可靠，重现性好。

测量原理：

粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处理

Zeta电位测量：膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率

分子量测量：水力直径或德拜曲线

光学系统：

3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路

软件系统：

先进的FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出, Internet共享数据，Microsoft Access格式（OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保护，电子签名和指定授权等。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途