微型电子器件插件、X 断面观测插件介绍

样品杯插件

快速简便制备样品

微型电子器件和 X 断面观测插件是为特定样品的快速制样所设计的，提高了样品观察速度。

微型电子器件插件

微型电子器件、太阳能电池及其它基片样品要求非破坏性的样品制样方法，使得观测完毕后样品可重新使用。

通常在进行扫描电子显微镜观测时，样品粘附在铝制样品托上。观测完毕后，取下样品时可能造成损害、污染，甚至断裂。

微型电子器件插件克服了这一困难，其独有的夹具设计使样品可以直接固定在插件上，不需要粘附，通过倾斜的夹钳将样品牢固的固定在插件上，16个夹钳均匀施力，不会造成样品的损坏。

X 断面观测插件

涂层、多层半导体器件及断面观测需要进行X-断面制样。通常，此类样品嵌入树脂中进行固定，耗时费力。

X 断面观测插件利用特制夹具，消除了这一困难。

借助X-断面观测插件，样品可以非常方便的固定在特制夹具中。可以迅速而简便的对样品的位置进行调整，而完全不需要其它工具的辅助。X 断面观测插件保留的样品断面的原始状态，使得观测完毕后样品可重新使用或进行其它检测。