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电化学ECV,掺杂浓度检测

参考报价: 面议 型号: CVP
品牌: 暂无 产地: 暂无
关注度: 258 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?
仪器简介:

仪器介绍:
电化学ECV主要用于半导体材料的研究及开发,其原理是使用电化学电容-电压法来测量半导体材料的掺杂浓度分布。
电化学ECV(CV-Profiler, C-V Profiler)也是分析或发展半导体光-电化学湿法蚀刻(PEC Etching)很好的选择。

电化学ECV可以用于太阳能电池、LED等产业,是化合物半导体材料研究或开发的主要工具之一。



技术参数:

载流子浓度分辨率:   < 1012 cm-3 to > 1021 cm-3 .
深度分辨率: 1 nm to 100 um. 
样品尺寸: 4*2 mm  至 8" wafer   (smaller samples on request).



主要特点:

CVP21电化学ECV是半导体载流子浓度分布完美的解决方案:
1, CVP21应用范围宽,可以用于绝大多数的半导体材料。
* IV族化合物半导体如:硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等…
* III-V族化合物半导体如:砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等…
* 三元III-V族化合物半导体如:铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等…
* 四元III-V族化合物半导体如:铝镓铟磷(AlGaInP)等…
* 氮化物如:氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等…
* II-VI族化合物半导体如:氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等…
* 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。
2, CVP21可用于不同形态的样品:多层结构的薄膜材料、基底没有限制(基底导电或绝缘均可)、标准样品尺寸从4*2mm ~ 8英寸晶圆(更小尺寸样品请预先咨询我们)。
3, CVP21拥有很好的分辨率范围。
* 载流子浓度分辨率范围从< 1012 cm-3 ~ > 1021 cm-3
* 深度分辨率范围从1nm ~ 100um (依样品类型、样品质量决定)
4, CVP21是一套完整的电化学ECV测量系统。
* 系统可靠性高(仪器的电子、机械、光学、液体传动几个主要部分均经特殊设计)
* 免校准的系统(完全自校准的电子系统,电缆电容均无须用户再次校准)
* 易于使用(全用户管理软件优化,在实验室环境或生产环境均易于使用)
* 照相机镜头控制(过程在线由彩色照相机镜头控制;每次测量后,镜头数据均可取出。)
* 实验菜单(测量菜单预定义,优先权用户可以很容易修改或改进测量菜单)
* Dry-In/Dry-Out: Auto-Load/Unload/Reload (电化学样品池自动装载/卸载/再装载,优先权用户易于修改,进行样品dry-in/dry-out处理。)

电化学ECV,掺杂浓度检测信息由科睿技术发展有限公司为您提供,如您想了解更多关于电化学ECV,掺杂浓度检测报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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