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连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备设计, 片电阻不受针尖距离影响多种型号以供选择: 自动上下片(Cassette to cassette, C2C)......
FSM360是一台全自动紫外线——可见光RAMan仪器,主要用与测量芯片应力。利用微米直径光斑照射。芯片会产生另外一个光束(Raman信号),Raman信号的频......
薄膜应力及基底翘曲测试设备简介: FSM 500TC 200mm 高温应力测试系统可以帮助研发和工艺工程师评......
基于Optilever激光扫描技术。 使用应力控制,避免薄膜分层,形成凹凸状。 光学设计减少图形衬底对激光的干涉。 在TSV, 半......
红外干涉测量设备适用于可让红外线通过的材料硅、蓝宝石、砷化镓、磷化铟、碳化硅、玻璃、石 英、聚合物…………衬底厚度(不受图案硅片、有胶带、凹凸或者粘......