布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测性能，缩短研发时间，提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理，这套非接触系统提供了超过传统接触式 测量技术的更多优点，这些仪器包括三坐标测试仪（CMM）和探针式轮廓仪等。测量优势包括获得高分辨的三维图像，进行快速丰富的数据采集，帮助用户更深入 地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样本的仪器设计的经验，NPFLEXTM是第一个可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统，而且能够高 效快捷地获得从微观到宏观等不同方面的样品信息。
其灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度
创新性的空间设计使得可测零件（样品）更大、形状更多
开放式龙门、定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测部位
高效的三维表面信息测量
每次测量均可获取多种分析结果
更容易获得更多的测量数据来帮助分析
垂直方向纳米分辨率提供更多的细节
干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率
工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据，为日渐苛刻的加工工艺提供保障
测量数据的快速获取保证了测试的迅速和高效
zei少的样品准备时间和测量准备时间
比接触法测量（一条线）更大的视场（一个面）获得表面更多的数据

测量不通尺寸、规格的样品，操作灵活，精确高效
通常情况下，测量比较大的样品或者特殊形状、特定表面的样品时，往往花费较长的时间对样品经行切割处理，才可经行测量。如今，开发出新型的NPFLEX测 量系统，拥有超大测量空间，zei高可测13英寸，这种创新性的空间设计，可以测量更大尺寸、更复杂形状的样品。开放式龙门、定制的夹具和可选的摇摆测量头可 轻松测量想测的样品部位。开放式结构与Bruker光学镜头的专利投点/倾斜设计，实现了更长的工作距离下获得理想的数值孔径。这使得NPFLEX善于测 量深沟，高纵横比的孔洞，或表面高低起伏比较大的作品。

卓越品质，坚如磐石
NPFLEX整体设计兼顾耐用，大理石机台可以承受zei重高达170磅的样品。开放式龙门设计可以灵活性测量表征更大的面型和更难测的角度。定制的夹具和可 选的摇摆测量头可轻松的转换测量方向，表征样品的不同位置。在实验过程中，使用NPFLEX，对于样品大小，取样过程以及实验环境的要求，都相对宽松很 多，使得实验可以灵活简便的完成，帮助生产者获得产品性质的精密数据。

纳米级分辨率的三维表面信息测量
大家对很多样品的表面性质感兴趣，但是要获得这些样品性质，需奥检测大量的样品表面定量星系。许多应用在航空航天，汽车，医疗植入产业的大尺寸样品。往往 只能借助于二维接触式检测工具经行表征，仅限于获取单一的线性数据。二维扫描能够提供样品的表面轮廓，但是无法深入研究样品表面更精确的纹理细节信息。
NPFLEX测试系统采用白光干涉原理，在每一个测量点都可以实现表面形貌的三维信息收集，且具有亚纳米级的垂直分辨率。所收集的数据不受探针zei重尺寸的局限，高效的三维表面信息测量可获取除表面粗糙度以外的多种分析结果，更多的测量数据来帮助分析样品性质。

快速获取数据，保证测试迅速高效
NPFLEX三维测量系统，能够灵活高效的获取大量测试数据。大大缩短了样品制备时间和测量方案设置时间，操作者可以快速更换样品，而且无需全面掌握样品 形状和表面形貌的前提下，对样品的不通表面进行测量。仅需要不到15秒的时间，就可以出色地完成一个测量点的数据采集和分析工作。
自动对焦，光强度调节以及其他配套软件功能，大大节约了测试分析时间，而且可以根据操作者的实验需求，量身定做zei优化的实验方案，而不影响数据的精度和质量。利用NPFLEX可以高效、快捷、灵活、准确地获得大型零部件的高精度测量结果，提供一站式的测量解决方案。

NPFLEX三维测量体系--全新表征技术，概念终成现实
广泛应用于研发领域
生产过程和产品质量监控
失效分析
性能卓越的测量体系，独特的开放式大样品台，灵活高效地获取精确数据

NPFLEX 三维表面测量系统信息由铂悦仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于NPFLEX 三维表面测量系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途