重金属含量检测仪
全反射X射线荧光光谱仪的工作原理（TXRF） 
X射线荧光光谱分析法(XRF)的原理：原子受原级X射线激发后，发出次级X射线荧光。因此，XRF 分析法可以： 
根据荧光的波长和能量，确定元素； 
各元素的浓度可根据荧光的强度进行计算。 

X射线由Mo靶或W靶产生，在Ni/C人工多层膜上反射并单色化。扁平的光束以非常小的角度(0.3 – 0.6 °)掠射装有样品的样品架，并产生全反射。样品所产生的特征荧光被能量色散探测器(XFlash® detector) 探测，强度通过偶合的多通道分析器测量。 

与常规的XRF*大的不同，全反射荧光（TXRF）是使用了单色光和全反射光学部件。以全反射光束照射样品，降低了吸收、以及样品及衬底材料对光的散射。结果是大大降低了背景噪音，因此有高的多的灵敏度和明显地降低了基体效应。 

全反射荧光(TXRF)的主要优点是，相对于其他原子波谱分析法，如AAS 或 ICP-OES，无记忆效应。 

全反射荧光分析法，样品必须制备在能全反射X射线的样品架上。因此，样品架的直径30mm，材料通常是丙烯酸或石英玻璃。 

液体样品直接滴在样品架上，通常是使用微量移液管转移几微升（µl）试液到样品架上。然后在干燥器里蒸发或在烘箱中干燥。 

固体样品，有不同的制样方法。粉末样品（悬浮质、土壤、矿物、金属、色素、生化样品，等等）可以把样品直接放在样品架上直接测量。典型的方法是，使用小勺或无尘纸转移几微克（µg）的样品到样品架上。 

单个的微量样品（颗粒，长条等）也可以用类似的方法直接制样。 

另外，粉末样品可以使用挥发性溶剂如甲醇制成悬浮液，悬浮液用移液管转移到样品架上，还可以使用微波消解的办法。
 
主要特点：
可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U，含量范围ppb至*，检出限到2pg。 
需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样品10微克以内。 
便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场进行分析。 
1位及25位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 
第四代XFlash®SDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率优于160eV at MnKa 100Kcps。 
由于全反射无背景，荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好，用户不需要标样就可以进行定量分析。
应用：水、废水、土壤中的污染元素；血液、尿液、组织中的有毒元素；食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。                   

重金属含量检测仪信息由铂悦仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于重金属含量检测仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途