动态测量数字化HPGe/NaI伽玛谱仪
 List Mode 模式，精确到200纳秒的时间标签
 低频噪声抑制器自动甄别并扣除噪声信号
 弹道亏损与电荷俘获校正
 自动zei优化、自动极零、零死时间校正和数字化门控基线恢复等多项专利技术

低频抑制器（LFR）：
开启时可甄别并扣除谱中小于3kHz的低频噪声信号，可显著降低系统本底，降低检出下限，或者缩短测量时间。
zei大数据通过率 :
大于100,000 cps（低频抑制器LFR关闭）；大于34,000 cps（低频抑制器LFR开启，根据成形时间常数而变）。
增益:
粗调：由计算机选定为1,2,4,8,16,或32；
细调：由计算机设定为0.45至1.00。
成形时间常数：
上升时间：0.8至23 s可调，每步0.2s，由计算机选择；平顶：范围从0.3至2.4s，每步0.1s，由计算机选择。
存储器分段（系统变换增益）：
由计算机选择为16,384，8192，4096，2048，1024或512道。
非线性：
积分非线性：≤ 0.025%（谱高端的99.5%，用5.9KeV到1836KeV范围内的混合源测定)；微分非线性：≤ 1%（用BNC公司的脉冲产生器及斜波产生器测定)
数字化稳谱器：
由计算机控制并稳定增益和零点。
温度系数：
增益:<35ppm/C；零点:<3 ppm/C。
过载恢复：
在zei大增益时，能在2.5倍的非过载脉冲宽度内从1000倍过载恢复至额定输出的2%以内（用Insight虚拟示波器测定）。
脉冲抗堆积：
自动设定域值，脉冲对分辨率为500ns。
自动数字化极零调节：
由计算机控制，可以手动或自动设定，远程模拟示波器方式诊断。
LLD/ULD：
数字下域电平甄别，以道为单位设置，LLD以下所有各道的计数被卡掉；数字上域电平甄别， ULD以上所有各道的计数被卡掉。
数字式门控基线恢复器：
可由计算机调节恢复频率（高、低或自动）。
数据存储器：
16,384道不丢失数据存储器，每道容量231-1（20亿）计数。
计数率显示：
在谱仪或电脑屏幕上显示计数率。
死时间校正：
按Gedcke-Hale 法活时校正，精度（随峰面积而变化）： <+ 3% ( 0 – 50,000 cps)。
显示/接口：
240160像素(pixel)背光液晶显示(LCD)提供谱的活显示和状态信息。USB接口。
尺寸与重量：
尺寸：24.9×20.0×8.1 cm。
重量：＜1.0Kg。
工作条件：
0C到50C（包括LCD显示）。

List Mode
在大范围的车载、航空或监控门等动态测量中，DSPEC-Pro可以为“数据流”设定zei短200纳秒的时间标签，这一功能与全球定位系统的结合可以快速确定放射性的来源。
弹道亏损与电荷俘获校正
对于大体积、高效率的高纯锗探测器和存在中子损伤的场合，弹道亏损或电荷俘获效应会使谱峰在低能端有较明显的拖尾，DSPEC-Pro在电子学上设计有专门的校正功能。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途