数码显微镜德国 光学表面测量系统 DCM8徕卡

获取完整信息！徕卡DCM8光学表面测量系统LeicaDCM8采用了最新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高工作效率，融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术的优点的多功能双核系统。一键模式选择，精密软件和无移动部件的高分辨率共聚焦扫描技术可确保用户能够实现超快速的分析操作。
通过各种规格的徕卡物镜、电动载物台和镜筒来对系统进行配置，以便完全适用于样本。徕卡DCM8包括1个高清CCD摄像头和4个LED光源（RGB和白色），可提供鲜明的真彩成像效果。使用高清共聚焦显微镜能够实现2纳米的垂直分辨率。选择垂直扫描干涉测量（VSI）、相移干涉测量（PSI）或者适用于分辨率高达0.1纳米的扩展相移干涉测量（ePSI）三种干涉测量模式后，能够有效地对结构进行分析。
LeicaDCM8采用创新性高清微显示扫描技术能够实现快速和可重现的捕捉数据，具有较大的视场。LeicaSCAN软件能够控制LeicaDCM8设备，为用户提供更高的精确度和可重复性，以满足复杂的三维测量任务。通过徕卡Map软件和全套高级分析工具，或者徕卡应用程序套件(LAS)，系统的测量功能得到进一步扩展。
徕卡DCM8能够对大尺寸样本进行配置，提供具有逼真的高清彩色图像，具有高耐久性，能够实现快速、可复制且无噪声的图像结果。无论用于生产用途还是研究用途，LeicaDCM8均能够提供精确、且可重复的测量分析结果，以实现材料性能的优化。

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