徕卡显微系统(上海)贸易有限公司
400-6699-117转1000
钻石会员
诚信认证:
工商注册信息已核实！
扫一扫即可访问手机版展台
微信公众号
工业显微镜应用-高清晰度共聚焦显微镜在薄膜表征上的应用
发布时间：
2017-04-04 14:31
来源：徕卡显微系统(上海)贸易有限公司
| 领域： | 其他 | ||
| 资料类型： | 标准 | ||
| 资料文件名 | 下载 |
|---|---|
工业显微镜应用-高清晰度共聚焦显微镜在薄膜表征上的应用 |
下载此篇资料 |
由于涂层在工程和科学领域中广泛应用，因此薄膜表征技术备受青睐。薄膜的机械、功能和几何特 性差异很大，难以找到通用的表征技术。共聚焦显微镜技术和干涉光学分析是可以用于这方面的少 数方法之一。本报告介绍如何测量各种薄膜的厚度、残余应力、粘附力和粗糙度，以及这种表征技 术如何提供优于传统表征方法（如压痕或划痕测试）的结果。
相关产品
