徕卡显微系统(上海)贸易有限公司
400-6699-117转1000
分析测试百科网 > 徕卡 > 资料下载 > 工业显微镜应用-DVM6M用于地质科学
钻石会员

诚信认证:

工商注册信息已核实!
扫一扫即可访问手机版展台
微信公众号

工业显微镜应用-DVM6M用于地质科学

发布时间: 2017-04-04 14:17 来源:徕卡显微系统(上海)贸易有限公司
领域: 其他
资料类型:标准
资料文件名 下载

工业显微镜应用-DVM6M用于地质科学

下载此篇资料

一百年前,偏振光显微镜就已经应用于传统的地球科学研究之中了。从那时起,随着技术的不断进步,这类显微镜 在用户友好性、人体工程学以及光学性能方面逐渐改善。时至今日,仍有一方面在原地踏步:传统的偏振光(复式) 显微镜仅适用于经过制备的样品,因为这类显微镜提供的工作距离不足以满足整个样品的检测。 这就意味着必须切割和抛光较厚、较大的地质样品,以适应复式显微镜的有限工作距离。这些样品制备对精确度的 要求极高,而在抛光片的厚度、平整度和抛光效果方面,对精确度的要求则更甚。运用带透射、偏振光 [1,2] 的复 式显微镜进行检测时,标准厚度应为 30 微米。 换言之,科学家检测未经制备的样品时,需要切换成工作距离较大的体视显微镜。

相关产品
移动版: 资讯 直播 仪器谱

Copyright ©2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved

京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号