WGL光电轮廓仪(2007BCEIA金奖产品)

应用范围：光电轮廓仪的应用范围很广，它主要用于测量各种精密加工零件表面的微观三维结构，如表面粗糙度；零件表面的刻线；刻槽的深度和镀层的厚度等。具体地说，如量块、光学零件表面的粗糙度；标尺、度盘的刻线深度；光栅的槽形结构；镀层厚度和镀层边界处的结构形貌；磁（光）盘、磁头表面结构测量；硅片表面粗糙度及其上图形结构测量等等。由于仪器测量精度高，重复性好，具有非接触和三维测量等特点，并采用计算机控制和快速分析、计算测量结果，本仪器适用于各级测试、计量研究单位，工矿企业计量室，精密加工车间和高等院校及科学研究单位等。

【产品详情】

仪器由倒置式改为正置式，更符合人们的操作习惯；
应用CMOS代替CCD，省去图象卡并提高了质量；
用低压电源代替高压电源，节省了仪器成本；
用国产的代替德国进口压电陶瓷，解决了关键部件的进口难题；
增加了自动步距和亮度校正程序，同时增加了局部放大三维立体图功能；

 表面微观不平深度测量范围：130?1nm
 测量的重复性：sRa≤0.5nm
 测量精度：8nm
 物镜倍率：40X
 数值孔径：0.65 
 仪器视场  目视：f0.25mm
                    摄象：0.13X0.13mm
仪器放大倍数  目视：500X 
                            摄象（计算机屏幕观察）：2500X
  接收器测量列阵：1000X1000
  象素尺寸：5.2X5.2nm

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途