牛津仪器C-Swift EBSD探测器

C-Swift是CMOS探测器家族的新成员，专为常规材料分析和快速样品表征而设计。
C-Swift继承了Symmetry的许多优点，包括为EBSD专门定制CMOS传感器。这些优点使得C-Swift也成为一种开创性的EBSD探测器。

C-Swift是一个先进、高速EBSD探测器。与Symmetry探测器一样，C-Swift使用定制的CMOS传感器来实现高速和高灵敏度，以确保即使在更具挑战性的材料上也能获得高质量的结果。

C-Swift速度高达1000pps，同时可获得高质量的花样分辨率(156x128像素）。这相当于基于CCD的探测器以相似速度运行时所采集花样像素数的4倍，确保所有类型样品的可靠标定和高命中率。无失真光学系统与AZtec软件中强大的标定算法结合，使C-Swift能够提供优于0.05°的高角度精度。对于需要更高质量花样的应用,  C-Swift可以以高达250pps的速度采集622x512像素的花样，使其成为复杂的多相样品和精细的相分析的理想选择。

这是专为快速、有效的样品表征而设计的探测器。系统的每个组件，从独特的接近传感器到可选的集成前置探测器，都经过设计, 旨在更大限度地提高性能和易用性, 并使EBSD成为每个实验室的标准工具。

• 确保1000 点/秒的标定速度

• 在250点/秒速度下，采集622x512像素的EBSD花样

• 对低能量和低束流分析具有非常高的灵敏度

• 无失真图像

当速度是关键时，C-Swift探测器达到了一个新标准：

• 仅需要12nA的电子束流，就能保证1000pps的标定速度

• 高速下的156x128像素的花样分辨率——同等速度下快速CCD探测器的4倍

• 全分辨率花样（622x512像素）——精细的相分析和形变分析的理想选择

• 低失真光学系统, 确保角度精度优于0.05°

• 优化的高灵敏度荧光屏, 确保低剂量和低束流能量下的高质量的花样——实现更大的空间分辨率

• 即使在快速下也能实现无缝的EDS集成

• 波纹管SEM接口，保持SEM真空完整性

• 独特的接近传感器——在可能发生的碰撞发生之前自动将探测器移动到安全位置

• 简单直观的探测器设置，确保每次都能获得良好的效果

• 五个集成的前置探测器, 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途