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关注生命科学与材料学 2018年北京市电子显微学年会开幕

发布时间: 2018-12-19 00:24:19 来源:分析测试百科网

  分析测试百科网讯 2018年12月18日,2018年度北京市电子显微学年会在北京市天文馆隆重召开。此次会议旨在推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平,促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。本次会议共有200余人出席。分析测试百科网作为支持媒体为您带来全程报道。

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会议现场

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北京理化分析测试技术学会秘书长 桂三刚

  北京理化分析测试技术学会秘书长桂三刚为本次会议致辞。桂三刚表示一年一度的北京电镜年会在天文馆再次召开。今年电镜年会报名人数再创新高,同时,电镜年会也为听众准备了精彩的报告。北京理化分析测试技术学会下属的北京电镜学会是一只活跃的学术团队,希望在新一届领导成员的带领下更创高峰。最后,桂三刚预祝2018年北京电子显微学年会圆满成功。

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清华大学 姜开利教授

  本次年会首先由清华大学姜开利教授带来报告,题目是“一维和二维纳米材料的快速表征技术”。姜开利表示,碳纳米管由二维石墨烯卷曲而成,其机械强度、导热性、导电性等多项性能优异,因此课题组开展碳纳米管场效应管晶体管表征研究,例如SEM下识别CNTs的导电性和带隙、蒸汽凝结辅助光学显微镜表征、瑞利散射光学显微镜表征以及大束斑、低电压、透射式电子衍射表征。虽然SEM是一种性能优异的表征工具,但其也存在低电压工作时辨率低等问题,因此课题组通过提高电压来提高分辨率和对比度,并且取得很好的检测结果。在进行瑞利散射方法进行表征时,除了可以分析碳纳米管材料,也可以分析其他半导体材料。采用电子衍射表征则拥有加速电压低、电子束斑小等优点,因此对于碳纳米管表征有为明显的优势。

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天美(中国)科学仪器有限公司电镜市场部经理 高敞

  由天美(中国)科学仪器有限公司电镜市场部经理高敞带来会议报告,题目是“日立电镜的最新技术与解决方案”。高敞首先介绍了日立OM-EM联用技术,并同时介绍了相应的制样及分析流程流程。高敞表示,日立OM-EM联用技术优势在于无品牌要求,任何品牌均可接入这套系统,同时SEM或TEM均可使用。随后介绍了冷冻传输-SEM联用系统,相比于传统制样手段,其具有样品无皱缩失真、制样速度快、可观察液体样品以及样品内部结构等优势。最后,高敞介绍了通过使用这套系统的实例分析案例,例如酵母细胞,脂质体内部结构,水稻根毛,蓝芝士,含油和水的矿石,润肤霜,牙膏,水溶胶等。

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中国科学院自动化研究所 韩华研究员

  由中国科学院自动化研究所韩华研究员带来会议报告,题目是“微观脑连接图谱的扫描电镜三维重建技术及进展”。韩华表示,如果需要观察神经元链接需要在纳米尺度在观察,传统分析手段则有STEM、SBEM、ATUM和FIB-SEM等,并且,大脑皮层网络智能研究在国际范围逐年增长,竞争日趋激烈。介绍,韩华介绍了突出水平圣经大数据与重建平台。目前,该平台已经配备FE-SEM 10台,其他设备30台。同时,该平台在制样、表征、数据处理等方面也进行了人员储备和相应方法开发。最后,韩华表示,这个项目得到了国家怀柔科技城的支持。

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牛津仪器科技(上海)有限公司纳米分析部高级应用工程师 杨小鹏

  由牛津仪器科技(上海)有限公司纳米分析部高级应用工程师杨小鹏带来会议报告,题目是“牛津仪器EDS和EBSD技术的最新进展和应用”。首先,杨小鹏介绍了牛津仪器的Ultim系列能谱仪的特点、优势,例如更大晶体面积、高灵敏度、高空间分辨率、准确定量,实现实时能谱。随后介绍了Ultim Extreme无窗超级能谱,这款产品具有工作距离短、优异低能端性能、超高空间分辨率。与此同时,杨小鹏也介绍了Ultim Max透射能谱,其具有大立体角、票及校正功能、可测量高温样品以及可测量样品质量厚度。最后,介绍了牛津EBSD的最新应用,例如金矿样品Au分布、甲基胺碘化铅等。

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北京生命科学研究院 季刚高级工程师

  由北京生命科学研究院季刚高级工程师带来会议报告,题目是“在电镜领域多个仪器功能开发项目的情况汇报”。季刚介绍了大分子高分辨结构解析、组织细胞超微结构分析以及OM-EM联用技术用于大尺寸电镜三维重构。

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日本电子 野久尾 毅

  由日本电子野久尾 毅带来会议报告,题目是“Introduction of JEOL Hi-End FE-SEM and Method of specimen preparation by CP”。野久尾 毅介绍了日本电子的JSM-7900F透射电镜。其采用实时电子特性仿真算法以及配有精准自动对焦和散光功能,并且JSM-7900F具有0.6 nm分辨率和光束减速器,配备SHL透镜、纳米室等,同时,这款透镜可配备EDS、EBSD、SXES等。随后,野久尾 毅介绍了日本电子SXES系列能谱仪并介绍了大量分析实例,同时也介绍了使用CP装置进行切片的实例。

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中国科学院物理研究所 王立芬

  由中国科学院物理研究所王立芬带来会议报告,题目是“石墨烯反应池中氯化钠成核结晶的原位透射电镜表征”。王立芬表示,基于经典成核理论,课题组通过利用原位TEM开展研究NaCl成核过程和原理。通过研究发现,NaCl溶液在借助石墨烯成核时并非属于经典成核过程,并且分为两步。首先,NaCl溶液凭借石墨烯形成单晶体,随后形成新相,在此之后,NaCl晶体保持六边形结构继续扩大。此外,通过动力学计算,课题组发现立方形NaCl是所有NaCl晶型中能量最低态,但仍然存在亚稳态相,因此课题组将对此展开详细研究。

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赛默飞世尔科技(中国)有限公司 杨光

  由赛默飞世尔科技(中国)有限公司杨光带来会议报告,题目是“Thermo fisher 透射电镜新技术进展”。 杨光首先介绍了赛默飞下一代S-CORR、成像软件iDPC

  等最新技术以及这些新技术的实际分析案例。随后,杨光介绍了Optistem+软件、Potimono和EMPAD软件的优点和成像实例,并且杨光表示,这些辅助软件均可在最新的Themis Z S/TEM中实现。

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EMSIS 尚振华

  由EMSIS尚振华带来会议报告,题目是“高速TEM相机系统”。尚振华表示,EMSIS主要关注于TEM相机的研发,随后介绍了EMSIS最新研发的XAROSA CMOS相机。这款相机其具有2000万像素,最高分辨率30 fps,采用独立水冷以及配备高速录像功能。同时,尚振华介绍了新一代侧插高速相机S12U,这款产品具有1200万像素,最高分辨率为15 fps,并且具有大视野以及全域快门。最后介绍了EMSIS发布的SPARK和JOLT两款产品。

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北京大学 高宁教授

  由北京大学高宁教授带来会议报告,题目是“冷冻电镜三维重构在生物大分子结构解析中的应用”。高宁表示,在上世纪,TEM主要被用于膜蛋白晶体解析,在结合冷冻制样方法和采用直接电子探测器后,Cryo-TEM在生物学分析中逐渐发挥出不可或缺的作用。随后,高宁介绍了3D冷冻电镜工作流程,即通过同一颗粒不同的二维投影的重构后,可获得该颗粒的原始三维结构。此后,高宁介绍了使用三维重构技术获得核糖体蛋白质三维结构的实际案例。最后,高宁介绍了制样中常见问题。

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布鲁克(北京)科技有限公司 李国梁

  由布鲁克(北京)科技有限公司李国梁带来会议报告,题目是“在SEM中实现sub-5 nm EDS和1 nm分辨率的EBSD分析”。李国梁首先介绍了FlatQUAD EDS的硬件设计,其具有,超高速、高分辨、低电流速以及无阴影的特点,随后有介绍了使用这款设备的分析案例。同时,李国梁介绍了布鲁克Optimus同轴TKD探头。李国梁表示,通过与离轴TKD和同轴TKD的信号、花样、分辨率对比,采用同轴设计的TKD探头均可获得良好测试结果。最后,李国梁介绍了使用同轴TKD在半导体行业中的实际分析案例以及Argus成像。

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泰思肯贸易(上海)有限公司市场部经理 顾群

  由泰思肯贸易(上海)有限公司市场部经理顾群带来会议报告,题目是“TESCAN微分析综合解决方案”。顾群表示,针对目前电镜分析时存在的问题,TESCAN开发出综合电镜分析平台,例如FIB-SEM-TOF-SIMS平台,SEM-Raman一体化分析系统。随后,顾群介绍了TESCAN锂电池-微分析综合解决方案以及详细分析过程。

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Ametek 夏为民

  由Ametek夏为民带来会议报告,题目是“EDAX公司微束分析技术的新亮点”。夏为民首先介绍了EDAX公司的实时加热与低真空环境下的EDS和WDS、基于CMPOS电路的TEM能谱检测器、基于CdTe芯片的新型EDS检测器、基于CMOS相机的EBSD系统、DeD EBSD以及相应的特点和检测实例。随后,夏为民介绍了用于扩展能量范围的新型EDS检测器以及EDAX公司的EBSD检测器及相应分析实例。

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北京中科科仪股份有限公司电镜事业部经理 范斌

  由北京中科科仪股份有限公司电镜事业部经理范斌带来会议报告,题目是“最新一代国产场发射扫描电镜性能介绍”。范斌介绍了中科科仪的FE-SEM,型号为EM8100,其分辨率为0.9 nm,30 kV。随后,范斌介绍了EM8100的应用成果,例如掺杂碳材料形貌演化规律、22 nm现代集成电路工艺研究、大尺度生物样品三维体字电子显微学方法研究、定性和定量解析PM2.5及更细颗粒物溯源等。最后,范斌介绍了中科科仪目前在研的应用技术及解决方案,例如,光发射电子显微镜、集成纳米操作机、飞秒激光器联用SEM等。

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司 秦艳

  由卡尔蔡司(上海)管理有限公司秦艳带来会议报告,题目是“蔡司离子显微镜技术在三维重构应用中的介绍”。秦艳首先介绍了蔡司的GeminiSEM平台,这套可以实现低电压下的高分辨观察,也可以实现高效输出和长时间的稳定性。随后,秦艳介绍了蔡司Atlas控制软件。这款然间可精密控制加工的样品厚度以及相应分析具体来源,以便获得最佳的三维重构分析结果。除了获得形貌三维重构图像外,使用Atlas软件也可以同时获得3D组成成分。除了传统三维重构分析外,也可以使用这款软件获得3D EBSD信息。

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北京科技大学 王守国教授

  由北京科技大学王守国教授带来会议报告,题目是“Magnetic contrast by photoemission electron microscopy (PEEM) excited by deep ultraviolet laser”。王守国表示,PEEM是分析磁性物质最好的方法之一,可以同时获得磁信号和表面形貌信息,课题组通过使用改进的中国独有的DUV PEEM对磁性物质进行分析。经过实际对比,相比于传统分析方法,DUV PEEM在磁成像方面可以达到43nm分辨率,同时在分析FePt薄膜等材料时同样可以获得清晰的磁性样品图像。最后,王守国表示,使用汞灯时,LEEM分辨率小于5 nm,PEEM分辨率小于10 nm;使用DUV时,可以获得MLC/MCD对比度图像,分辨率可达43.2 nm;使用MBE-PEEM系统式,可以原位沉积和PEEM成像。

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司 武素芳

  由徕卡显微系统(上海)贸易有限公司武素芳带来会议报告,题目是“徕卡电镜制样的最新进展”。武素芳首先介绍了徕卡用于含水样品的冷冻传输系统。武素芳表示,在冷冻固定阶段,徕卡的VCM可以实现自动控制并且可以对接多种平台。之后,将冷冻完成的样品送至ACE断裂平台和镀膜平台,在样品前处理完成后,通过徕卡的冷冻平台移置冷冻电镜内进行后续观察。随后,武素芳介绍了使用这套平台的实际分析案例。最后,武素芳介绍了徕卡三离子束抛光仪TIC 3X。武素芳表示,这款设备除了可以切平面外,还可以对进行物品抛光,尤其对于材质较软或难以通过传统机械加工的样品有很好的加工结果。

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聚束科技(北京)有限公司总经理 何伟

  最后,由聚束科技(北京)有限公司总经理何伟带来会议报告,题目是“高通量扫描电镜的应用---从半导体到脑科学”。何伟表示,高通量SEM产生于半导体工业检测,其需要低压高分辨、采图快、定位准以及全自动化的要求。因此聚束科技通过特种定置化高通量SEM,为科研及相关产业研制Hi-TPT SEM。聚束科技研制的高通量SEM采用场发射加直接电子探测器、电磁复合透镜加摇摆浸没物镜以及全称高度智能化设计。通过与传统SEM比对,高通量SEM无论在采样速度、图片刷新率,还是分辨率等均远超传统SEM。

  部分参展厂商:

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牛津仪器科技(上海)有限公司

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布鲁克(北京)科技有限公司

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徕卡显微系统(上海)有限公司

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泰思肯贸易(上海)有限公司

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天美(中国)科学仪器有限公司

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捷欧路(北京)科贸有限公司

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复纳科学仪器(上海)有限公司

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北京中科科仪股份有限公司

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