PIDS专利（偏振光强差异专利）-高分辨率粒度分析，用偏光强度差式散射法分析非球状亚微粒子

几乎所有采用激光散射法的粒度分析仪器在测试时都没有考虑粒子的形状，不重视粒子的尺寸，原因是在于利用分析过程中获得的原始数据计算粒径分布时的基本假设。 用于计算粒径分布的数学模型是基于球形体系的，因此所有粒径分布结果都是被分析材料的等效的球状分布。在大多数实例中，这个结果相当合理，因为大多数粒子都足于近似为球形体系。 贝克曼库尔特LS™系列粒度分析仪采用一种偏振光散射技术来分析亚微粒子，这种技术将通过具体实例来解释用PIDS 系统是如何对非球形粒子进行分析的。 基于这个原因，贝克曼库尔特公司开发出了高分辨率亚微粒子粒径分析的PIDS 技术，首次完全解决了亚微粒子粒径分析的问题。 PIDS 技术并不复杂，并且具有安装容易的以及能够用光散射的Mie 理论解释的优点。 PIDS 技术依赖于光的传播特性，即光线包含一个磁性向量和一个电向量，二者成九十度角。例如如果电向量是上下方向，这个光就叫做垂直偏振光。 当我们用一个已知波长的偏振光照射试样时，试样内的电子的振动电场将形成一个偶极子或单一振动环，这些单一振动环将与所传播的光在同一个平面内，粒子内的振动偶极子向除入射光源方向外的其他方向散射光线在这方面PIDS 技术具有优势，用三种波长的光同时照射试样（先用水平然后垂直的偏振光），我们测试到从试样散射或辐射的光都超过一个角度范围。 通过分析每个波长下水平和垂直方向散射光的不同，我们获得了试样粒径分布的信息。应该注意到我们仅仅是分析在垂直和水平方向上信号的不同而不是具体的数值。 从PIDS 信号获得的强度对散射角的信息使用