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固体及薄膜表面Zeta电位分析仪

发布时间: 2018-03-28 02:02 来源:贝克曼库尔特商贸(中国)有限公司

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贝克曼库尔特公司的 固体及薄膜表面Zeta电位分析仪,型号:DelsaNano C/Solid Surface,是全球第一台应用电泳光散射原理,通过测量探测粒子在电场中的运动特征而求得固体(或薄膜)与液体之介面Zeta电位的分析仪。该仪器的上市为固液介面特性的表征提供了一个全新的方法。开拓了一个可探索的包括薄膜、纤维等固体表面研究的新领域。 固体平面样品的Zeta电位可以使用平面样品池来测定。该样品池的上壁为固体平面样品的表面代替。由于样品池上下壁表面的电荷有差异,样品池中的电渗流变得不对称。电渗流取决于安装的样品平面的表面电荷。可用Mori和Okamoto的方程来分析,以测定上壁(样品)表面处的电渗流速度。可以通过表观迁移率减去真实迁移率计算得出。样品的表面Zeta电位可采用Smolochowski方程计算得出。因此固体平面样品的Zeta电位可以被测量。


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