产品描述：
ThermoScientificScios2DualBeam是一款高分辨率分析系统，可为各类型样品（包括磁性和不导电材料）提供出色的样品制备和三维表征性能。该系统的功能设计创新，优化了样品处理能力、分析精度和易用性，是科学家和工程师在学术和工业环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。
Scios2DualBeam能够快速轻松地定位制备各种材料的高分辨S/TEM样品。系统配备ThermoScientificAutoSlice&View软件，可以高质量、全自动地采集多种三维信息。无论是在STEM模式下以30kV来获取结构信息，还是在低能量下从样品表面获取无电荷信息，系统在最广泛的工作条件下都能提供出色的纳米级细节。Scios2DualBeam可以帮助所有经验水平的用户更快、更轻松地获得高质量、可重复的结果。此外，系统专为材料科学中最具挑战的材料微观表征需求而设计，配备了全集成化、极快速MEMS热台，可在更接近真实环境的工作条件下进行样品表征。
产品参数：
发射源：高稳定型肖特基场发射电子枪
分辨率：最佳工作距离下1.4nm（1keV）
电子束参数：
探针电流范围：1pA–400nA
加速电压范围：200V~30kV
着陆电压范围：20eV~30keV
导航蒙太奇功能，可额外增大视场宽度
离子光学：卓越的大束流Sidewinder离子镜筒
加速电压范围：500v-30kv
离子束流范围：1.5pA-65nA
15孔光阑
不导电样品漂移抑制模式
离子源寿命至少1000h
离子束分辨率30kv下3.0nm
样品室：
电子束和离子束重合点在分析工作距离处（SEM7mm）
端口：21个
内宽：379mm
样品台：灵活五轴电动样品台
XY范围：110mm
Z范围：65mm
旋转：360°连续
倾斜：-15°到+90°
最大样品尺寸，直径110mm，可沿X、Y轴完全旋转时
最大样品高度，与优中心点间隔为85mm
最大样品质量5kg（包括样品托）
探测器系统：可同步检测多达4中信号
样品室二次电子探测器ETD
镜筒内背散射电子探测器T1
镜筒内二次电子探测器T2
镜筒内二次电子探测器T3（可升级）
IR-CCD红外相机（观察样品台高度）
可用于图像导航的彩色光学相机Nav-Cam+™
高性能离子转换和电子探测器ICE
可伸缩式低电压、高衬度、分割式固态背散射探测器DBS
电子束流测量控制系统：64操作系统、键盘、光学鼠标
图像显示：24寸LCD显示器，最高显示分辨率1920×1200
支持用户自定义的GUI，可同时实时显示4幅图像
本地语言支持
特点与用途：
使用SidewinderHT离子镜筒快速、简便地制备高质量、定位TEM和原子探针样品
ThermoScientificNICol电子镜筒可进行超高分辨成像，满足最广泛类型样品的最佳成像需求
各类集成化镜筒内及极靴下探测器，采集优质、锐利、无电荷图像，提供最完整的样品信息
高度灵活的110mm样品台和内置的ThermoScientificNav-Cam相机实现精确样品导航
专用的DCFI、漂移抑制技术和ThermoScientificSmartScan等模式实现无伪影成像和图形加工
灵活的DualBeam配置，优化解决方案满足特定应用需求。
赛默飞Scios 2 DualBeam（原FEI） 透射电镜 TEM信息由北京欧波同光学技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于赛默飞Scios 2 DualBeam（原FEI） 透射电镜 TEM报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
