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美国热电X-射线能谱仪(配电子显微镜用)

参考报价: 请电询:025-85432178 型号: 系统6 LN2/SDryII/UDry
品牌: 暂无 产地: 暂无
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NORAN SystemSix 型能谱仪主要特点

SystemSix 型能谱仪是美国热电集团NORAN能谱公司2003 年推出的zei新一代的高智能化能谱仪。也是第六代能谱仪技术。它集NORAN公司40年能谱仪制造经验,并融入zei新的计算机和图像分析技术,创造出新一代日臻完美的,操作简便的高稳定性能谱仪。

主要特点如下:
 SystemSix 系统对所有能谱仪分析功能均在一个工作界面下完成,所有任务仅靠鼠标一点自动完成。实现能谱仪分析工作的智能化。
 能谱仪操作系统为 windows XP, SysemSix 能谱仪分析软件可以脱机安装,可以满足用户在第二台; 第三台…..计算机上安装能谱仪分析软件, 脱机分析和处理数据的愿望。NORAN能谱仪开放的能谱分析软件可以极大提供用户电镜和能谱仪的使用效率。
 能谱仪硬件具有,在采集时自动的零峰监测和校正。根据计数率和死时间自动选择zei佳数字脉冲处理器比率。根据束流电压自动设置通道参数和能量范围。
 能谱仪的谱分析,图像采集,分析 元素面分布处理,多元素线扫描分析等工作均可方便的直接(一键完成) 自动转换到word 格式,Power point幻灯片格式。便于用户制作,修改,储存数据和文件。
 能谱仪标准配置中具有,自动的定性定量分析,谱峰的自动定性和自动定量,背底扣除,重叠峰剥离,氧化物计算等功能,同时具有具有人为干预的手动功能,具有为专业的能谱仪分析工作提供方便。
 能谱仪可完成电镜的二次电子图像,背散射图像的采集和处理。自动多点分析功能,元素面分布功能。并可以对图像进行处理,具有活的测量工具,可测量图像中任意方向的微粒直径和距离。能谱仪可以完成任意数量的元素面分布和实时线扫描。
 具有zei先进的Spectral Imaging (全谱元素图象分析技术)具有一次采集图像,拥有全部信息的能谱技术。无需二次使用样品。在Spectral Imaging 图像中可以完成任意点,线,面,不规则图形的成分分析。
 具有COMPASS 自动相分析软件(自动提取化合物或相分布图)自动完成全谱元素图像数据的统计分析,自动提取各种不同的相(化合物)的分布范围。这一能谱功能实现了能谱仪在分析样品时不仅能提供单质元素的面分布,而且样品的相结构(化合物)可以进行相分布自动提取和分析。这一分析技术是NORAN公司独有(专利技术)的分析技术。
NORAN SystemSix 能谱仪主机可以与扫描电子显微镜(扫描电镜SEM)的接口完美一体化相联。与DELL工业标准计算机通过网卡连接,能谱仪与计算机分立机箱,为今后用户计算机升级提供可靠接口。
 能谱仪探测器技术,NORAN公司提供高分辨,高灵敏度探测器技术,元素分析范围从Be – U 探测器无需除霜,保证长期稳定。探测器及能谱分析技术素以定量准确享誉国际市场。特别是在低能端,无O, C,N 等杂散峰。确保定性准确性。公司可提供液氮制冷和第二代电制冷技术的各种探测器。
 SystemSix 能谱仪继承NORAN 能谱仪高稳定性的技术特点。为高性能研究分析型----能谱仪。

技术参数

探测器种类:
1)液氮制冷:NanoTrace探测器
2) 电致冷:SuperDryII探测器,半导体差温电制冷技术,不用液氮、免维护的探测器
3)硅漂移:UltraDry探测器,一种在高计数率条件下,更好的探测器技术
1.液氮制冷:NanoTrace探测器
高效Si(Li) 晶体探测器技术
元素分析范围: Be (4) 至 Fm (100)
可选择的晶体活区面积:10mm2,30 mm2,40 mm2,50mm2。晶体越大探测效率越高,特别适合痕量元素和快速元素面分布分析
zei好的轻元素分辨率 优于CFWHM62ev,F FWHM 65ev,MnFWHM129ev (保证分辨率为安装在SEM上测量)
精确的峰形,低能端不产生杂散峰。高计数下分辨率损失小。
可耐2个以上大气压的超薄窗口材料,无需除霜。
可选择的液氮容器为:1.5升 至 10升
2.电致冷探测器技术
元素分析范围: Be (4) 至 U (92)
zei好的轻元素分辨率 优于F Ka 65eV, Mn Ka 133eV (保证分辨率为安装在SEM系统上测量)精确的峰形,低能端不产生杂散峰。高计数下分辨率损失小。
可选择晶体面积:10mm2, 可耐2个以上大气压的超薄窗口材料,无需除霜。
免维护探测器技术,年运行费用零费用。目前中国已有30家以上用户
3.UltraDry硅漂移探测器
高计数率高效Si漂晶体:
元素分析范围: B (5) 至 Fm (100)
zei好的轻元素分辨率 优于 Mn Ka 140eV(5000cps),Mn Ka 175eV (60,000cps)(保证分辨率为安装在SEM系统上测量)
精确的峰形,低能端不产生杂散峰。
高计数下分辨率损失小。
可选择晶体面积:10mm2, 可耐2个以上大气压的超薄窗口材料,无需除霜。无需液氮。通电后15分钟内可达工作条件.

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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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