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工商注册信息已核实!参考报价: | 面议 | 型号: | X-Strata980 |
品牌: | 暂无 | 产地: | 暂无 |
关注度: | 29 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 |
400-6699-117转1000
运用X 荧光原理实现痕量元素分析及镀层厚度测量。应用于:
-有害元素痕量分析
-焊料合金成分分析和镀层厚度测量
-电子产品中金和钯镀层的厚度测量
-五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
-贵金属合金分析和牌号鉴定
请见样本
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择zei合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入。
-25平方毫米PIN探测器
-100瓦X射线管
-多准直器配置
-扫描分析及元素分布成像功能
-灵活运用多种分析模型
-清晰显示样品合格/不合格
-超大样品舱
-同时分析元素含量和镀层厚度
XRF痕量元素分析及镀层测厚仪信息由国鼎环科(北京)技术有限公司 Gooding technology(Beijing) Co.,Ltd.为您提供,如您想了解更多关于XRF痕量元素分析及镀层测厚仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途