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工商注册信息已核实!参考报价: | 面议 | 型号: | CMI165 |
品牌: | 暂无 | 产地: | 暂无 |
关注度: | 28 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 |
400-6699-117转1000
CMI165是一款人性化设计、坚固耐用的世界首款带温度补偿功能的手持式铜箔测厚仪。
利用微电阻原理通过四针式探头进行铜
厚测量,符合EN 14571 测试标准
厚度测量范围
• 化学铜: (0.25-12.7) μm,
(0.01-0.5) mils
• 电镀铜: (2.0-254) μm,
(0.1-10) mils
仪器再现性:σ≈ 0.08 μm at 20 μm
(0.003 mils at 0.79 mils)
强大的数据统计分析功能,包括数据记
录、平均数、标准差和上下限提醒功
能。
数据显示单位可选择mils、μm 或oz
仪器的操作界面有英文和简体中文两种
语言供选择
仪器无需特殊规格标准片,同样可实现
蚀刻后的线型铜箔的厚度测量,可测线
宽范围低至204 μm (8 mils)
仪器可以储存9690 条检测结果(测试日
期时间可自行设定)
测试数据通过USB2.0 实现高速传输,也
可保存为Excel格式文件
仪器为工厂预校准
客户可根据不同应用灵活设置仪器
用户可选择固定或连续测量模式
仪器使用普通AA电池供电
- 可测试高温的PCB铜箔
- 显示单位可为mils,μm或oz
- 可用于铜箔的来料检验
- 可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试
- 可用于电镀铜后的面铜厚度测试
- 配有SRP-T1,带有温度补偿功能的面铜测试头
- 可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试
面铜测厚仪信息由国鼎环科(北京)技术有限公司 Gooding technology(Beijing) Co.,Ltd.为您提供,如您想了解更多关于面铜测厚仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途