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创想XRF荧光光谱仪

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参考报价: 面议 型号: EDX-6000
品牌: 创想仪器 产地: 江苏
关注度: 6 信息完整度:
样本: 暂无样本 典型用户: 暂无
产地属性中国大陆仪器种类台式/落地式能散型XRF
价格范围0万-5万行业专用类型通用
分析含量范围 2ppm-99.99%能量分辨率 小于140eV
元素分析范围 Na(11)-U(92)重复性 0.1%

EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析

产品概述

能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器,通过智能激发和检测设计实现高灵敏度,用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法,适用于不同的应用场合。


内容描述



仪器型号

EDXRF


分析原理

能量色散X射线荧光分析法


分析元素范围

Na(11)-U(92)任意元素


检出下限

Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm


样品形状

任意大小,任何不规则形状


样品类型

塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等


X射线管

靶材

钼(Mo)靶

管电压

5─50KV


管电流

1─1000uA


样品照射直径

2、5、8mm


探测器

美国进口Si-PIN探测器,高速脉冲高度分析系统


高压发生器

美国SPELLMAN高压发生器


前置放大器

美国进口前置放大器,与美国进口探测器兼容性好


主放大器

美国进口主放大器,与美国进口探测器兼容性好


AD转换模块

美国进口AD转换模块,与美国进口探测器兼容性好


ADC

2048道


滤光片

6种滤光片自动选择并自动转换


样品观察

130万彩色CCD摄像机


分析软件

专利软件产品 BX-V26版本,终身免费升级


分析方法

理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法


操作系统软件

WINDOWS XP(正版)


数据处理系统

主机

PC商务机型

CPU

P4 3.0


内存

512MB


光驱

8xDVD


硬盘

80G


显示器

17寸液晶显示器


工作环境

温度10-35С,湿度30-70%RH


重量

60Kg(主机部分)


外形尺寸

550(W)×450(D)×450(H)mm


外部供电电源要求

AC220±10%、50/60Hz


测定条件

大气环境


测试样品时间

100-300秒可调


环境温度

10℃-28℃


环境湿度

≤70 %RH(25℃室温)


应用领域

EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品,塑料和聚合物,食品和化妆品,环境,矿石,医药,建筑材料,中心实验室成品检验,金属材料等。

工作原理

采用的是X射线荧光分析原理,受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。


仪器结构

融合经验系数法、基本参数法(FP法)等分析方法,测试数据的准确性能得到全面保证。

经验系数法:仪器依据对标准样品的测定,确定影响系数。对标准样品要求高,需和待测样品类型相近,校正模型简单。

基本参数法(FP法):仪器根据实际检测物质,通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高,计算较复杂,适合缺少对应标样的物质检测。

软件功能

1

元素含量分析范围为2 PPm到99.99%

2

采用BG内标校正,提高非定性式样测量精度

3

用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法

4

全自动定量分析报告 简捷准确

5

自适应初试化校正

6

光谱的自动获取和显示。

7

具有自动检测仪器工作状态的功能。

8

自动判别样品及自动分析。提供扩展接口,进一步作其他元素分析,从钙到铀元素。

进口硬件

1

美国进口Si-PIN探测器,高速脉冲高度分析系统

2

美国SPELLMAN高压发生器

3

美国进口前置放大器,与美国进口探测器兼容性好

4

美国进口主放大器,与美国进口探测器兼容性好

5

美国进口AD转换模块,与美国进口探测器兼容性好



创想XRF荧光光谱仪信息由无锡创想分析仪器有限公司为您提供,如您想了解更多关于创想XRF荧光光谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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