CIT-3000SM能量色散X荧光光谱仪

产品名称：CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪 

产品说明、技术参数及配置 

CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪，是先达公司2003年推出的达到世界先进水平、国内领先水平的全元素分析仪器，当年被科技部、质监总局、税务总局等五部委联合批准为“国家重点新产品”，同时被国家列入十五、十一五重点推广的科技项目。该仪器利用低能X光管进行激发，采用了国外最先进的半导体电制冷探测器进行探测，数字化谱分析技术，2048道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析，一次性可以完成20多种元素的快速、准确分析。 

适用范围 

钢铁行业：生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析； 

耐火材料：各类样品成份分析； 

有色行业：铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析； 

质检部门：工业产品、金、银等各种成份分析。 

型号：CIT-3000SM 

性能特点 

采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； 

采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，韧致辐射型，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率； 

采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器，分辨率高，无需液氮制冷，使用方便。可以一次性完成对多种元素的探测； 

高压电源：电压 0V-50kV连续可调；电流0-lmA连续可调，数码显示，精度高，无故障操作； 

样品种类：固体、粉末、液体均可，压片无需添加任何试剂； 

腔内环境：空气或真空； 

真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围； 

2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成； 

可一次性实现20多种元素的快速、无损、准确分析； 

自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定； 

专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件； 

全中文Windows应用软件，操作简单。 

技术指标 

分析元素：Mg-U，主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、As等 

分析范围：1ppm-99.99% 

同时分析：20多种元素同时分析 

能量范围：1-30keV 

测量时间：1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析 

探测器的分辨率：150ev 

管电压：0-50Kv 管电流： 1～1000 μA 

仪器的分析精度：标准偏差≤0.08% 

分析误差：优于国家标准要求 

辐射剂量：<25μsv/h. 

工作环境：温度10～35 ℃ 湿度30～70%RH 

電源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz 

仪器配置 

仪器主机一台 

控制面板 

进口电制冷半导体探测器 

X光管（1KV-40KV） 

高压电源 

计算机一台 

激光打印机一台 

真空泵一台 

压片机一台 

制样模具一套 

稳压电源一台 

测试软件一套

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途