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滨松于第二届质谱仪器研发论坛,展现质谱用关键器件最新动向

发布时间: 2019-10-30 09:37 来源:滨松光子学商贸(中国)有限公司

2019年10月11日-12日,第二届质谱仪器研发论坛在江苏昆山举办,此次会议由中国仪器仪表学会分析仪器分会质谱仪器学术组主办,分析测试百科网协办,昆山禾信质谱技术有限公司承办,国内质谱研发领域资深专家齐聚一堂,共同讨论质谱核心技术的创新开发及应用问题。


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滨松携多款最新的质谱探测用关键器件,参加了本次会议。并在会议中发表了《质谱探测新技术,为质谱仪研发带来更多可能》的报告,介绍了滨松40余年在质谱探测技术上的努力,针对质谱仪器的研发,可提供全套的探测方案,产品覆盖微通道板(MCP)、电子倍增器(EM)以及VUV离子化光源、无需基质的辅助离子化基板等,可应用于TOF-MS、Q-MS、IT-MS等质谱仪之中。报告中,滨松中国工程师也重点展示了近年来陆续发布的四款最新产品:高气压下(达1Pa)仍可高增益正常工作的栅网阳极结构MCP、大幅缩短TOF-MS(MALDI)前处理时间的无基质辅助电离基板(DIUTHAME)、复合雪崩二极管结构的MCP、陶瓷通道式电子倍增器(CEM)。从发布到此一年多的时间内,通过实际应用中的验证,新品也得到了进一步的打磨,一系列详细的使用数据,在此次的报告中也首次于国内呈现。


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滨松于中国拥有全资子公司,即滨松光子学商贸(中国)有限公司。滨松中国拥有一只独立的本土团队,可快速应想要客户的需求,提供技术支持和产品定制化服务。针对质谱应用,滨松中国亦配备了包括市场、销售、产品技术人员在内的独立项目组,专人负责,以促进滨松的技术最大程度地支持于客户的仪器研发。


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