滨松将于第二届质谱仪器研发论坛发布最新质谱用探测技术动向

第二届质谱仪器研发论坛将于2019年10月10日-12日在江苏昆山举办，本届会议由中国仪器仪表学会分析仪器分会质谱仪器学术组主办，分析测试百科网协办，昆山禾信质谱技术有限公司承办。届时将有众多质谱研发领域资深专家与会，共同讨论质谱核心技术的创新开发及应用问题。

滨松中国将出席本次会议，并发表“质谱探测新技术，为质谱仪研发带来更多可能”的报告（10月11日，15:45-16:00）。报告将介绍本年ASMS中发布的滨松应用于质谱分析仪器的探测技术动向，以及产品升级和最新应用信息，其中包括了高气压下（达1Pa）仍可高增益正常工作的栅网阳极结构MCP、大幅缩短TOF-MS（MALDI）前处理时间的无基质辅助电离基板（DIUTHAME）、复合雪崩二极管结构的MCP、通道式电子倍增器（CEM）。

滨松拥有65年光电探测器的研制经验，享誉世界，在质谱用探测器技术的耕耘也已有40年的历史，可为质谱提供离子化光源、电子倍增器（EM）、微通道板（MCP）等产品。此次会议，滨松将在现场进行包括新品在内的多类系列产品的展示，欢迎届时莅临展位参观与交流。