滨松公司与同方威视开展安检技术交流活动

        2015年3月18日，滨松与同方威视的技术交流会于北京文津国际酒店召开。会议主要围绕安检行业发展以及安检用探测器的最新技术展开，双方参会领导、工程师等人员就相关技术问题，进行了深入的交流和探讨。

        目前，滨松的光电探测器广泛应用在大型车辆安检、集装箱安检、行李及包裹成像检查、人体和液体安检等各安检方面，滨松相关工程师以及业务人员为与会者们详细介绍了可用于安检的滨松全线的光电探测器、晶体等产品。

可用于安检分析设备的滨松CMOS线阵图像传感器

        而在未来安检设备的发展中，小型化、便捷化是一个显著的趋势，因此对其核心探测器也有了新的要求。会上滨松亦展示了近年研制的可替代的新型探测器，如由滨松公司固体事业部研制的MPPC（多像素光子计数器）及模块产品。该产品相对现有传统的PD探测器，具有灵敏度更高、集成化更高的优势，可有效改善安检设备发射源体积大、防护困难、成本高的问题，在保证甚至提高安检设备性能的前提下，为其体积的缩小提供了可能。

可用于个人辐射计量仪的MPPC产品

滨松MPPC模块产品，可用于手持式辐射计量仪

        除了普通安检设备以外，随着人们对公共安全的更多关注和要求，高端安检设备，如安检CT在近年也得到了国内较多的注目。而滨松可为该类设备的开发，提供ODM探测器等产品，并以此带动安检新型应用的发展。
        “立足创新，技术先行”，会中与会双方共同展望了安检行业以及相关探测器技术的发展，并共同相信新型应用的需求能更好的促进技术的快速发展，更高技术的出现也定会为新型应用提供更多的可能。而安检设备将不断朝着“安检系统”的方向努力，为各方面的安全护航提供更完善的安检方案，从而筑建更加坚实的保障系统。

滨松公司固体事业部山本晃永先生
 

同方威视总裁陈志强先生

晶体分会场，与会人员积极进行提问

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