仪器简介：应用领域： 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS + Si, Ge, SiGe... ◦ 电解质: SiO......
仪器简介：·zei低廉的价位 ·适合大学和科研中心技术参数：测量范围 200Å~ 50㎛(根据膜的类型)......
仪器简介： 膜厚仪适用于半导体，FPD，太阳能电池（ＡＲＣ）、纳米技术，电子材料及特殊薄膜等的膜厚及其相关光学参数的测量。 目前该产品已广泛应用于半导体、平板......
应用: -太阳能电池：SiNX,a-Si,poly-Si,SiO2，绒面ARC膜厚，折射率，反射率等检测 -半导体：Si,Ge,PR,BLT,GaN,Ga,A......
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