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4探针测试系统

参考报价: 面议 型号: SR2000N
品牌: 暂无 产地: 暂无
关注度: 95 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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仪器简介:

此系统通过手动或自动方式实现对材料表面的点电阻或面电阻进行测量表征,可通过图谱,数据,2D或3D方式体现;仪器与电脑连接使用,可通过专业软件进行控制,分析。表面电阻(ohm/sq),电阻率(ohm.cm)测试zei理想的专业工具。

广泛应用于半导体材料分析,铁电材料,纳米材料,太阳能电池,LCD,OLED,触摸屏。。。



技术参数:

表面电阻测量:
- 测量模式 : 接触式 4-探针
电阻率测量:
- 测量模式 : 接触式 4-探针 (可输入厚度)


软件系统:
- 测量条件灵活 : Wafer type, 点间隔测量, etc.
- 储存& 下载 : 数据, wafer 型, 测试点, etc.
- 数据分析 : 2D, 3D mapping, data map, etc.
- On/Off : 电脑操控, 真空
- 数据 & mapping 可打印

测量模式 (S/W)
-自动检测: Point interval designation by user
-快速检测 : ASTM & SEMI Mode
-点测量: Appointment on wafer by mouse
-手动检测 : Appointment on wafer by arrow key



主要特点:

-X,Y,Z-轴全自动控制系统
-自动& 手动范围可选
-样品台尺寸可根据客户订制
-通过PC进行控制
-数据分析 (2D, 3Dmap etc)
-ASTM & SEMI 快速测量模式

4探针测试系统信息由南京伯奢咏怀电子科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于4探针测试系统报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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