Veeco于9月24号举办光学干涉表征技术研讨会

发布时间： 2008-08-22 00:00 来源：布鲁克（北京）科技有限公司-纳米表面仪器

全球领先测量仪器制造商美国Veeco公司，将于“2008中国国际轴承及其专用设备展览会”同期举办光学干涉表征技术研讨会。Veeco旗下的Wyko光学轮廓仪可提供精确的、重复性高的三维测试方案，达纳米以下的垂直分辨率，被广泛应用在精密机械加工、材料、半导体、生物、光学器件等方向。在这次的研讨会中，我们将着重介绍光学干涉测量技术在轴承制造及精密加工领域的应用，并在现场进行仪器操作演示。
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敬请阁下光临我公司展台，展位号：Bd24

题目：光学干涉表征技术及其在轴承领域的应用
时间：2008年9月24日 14:00-17:00 pm
地点：光大会展中心国际大酒店一层光韵厅3号，上海徐汇区漕宝路66号