NPFLEX 三维表面测量系统

　　NPFLEX 三维表面测量系统

　　针对大样品设计的非接触测试分析系统

　　灵活测量大尺寸、特殊角度的样品高效的三维表面信息测量垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节快速获取测量数据，测试过程迅速高效

　　布鲁克的NP FLEXFLEXFLEX TM 3D 表表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力，

　　布鲁克的NPFLEX^TM 3D 表表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力，实现更快的测量时间，提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理，这套非接触系统提供的技术性能超 过了传统的接触式坐标测量仪（CMM）和工业级探针式轮廓仪的测量技术。测量优势包括获得高分辨的三维图像，进行快速丰富的数据采集，帮助用户更深入地了 解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样本的仪器设计的经验，NPFLEX^TM 是第一个可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统，而且能够高效快捷地获取从微观到宏观等不同方面的样品信息。

　　其灵活性表现在可用于测量征更大的面型和难角度样品

• 创新性的空间设计使得可测零件(样品)更大、形状
• 开放式龙门、 客户定制的夹具和可选的摇摆测量头轻松测量想测部位

　　高效的三维表面信息测量

• 每次测量均可获得完整表面信息，并可用于多种分析目的
• 更容易获得更多的测量数据来帮助分析

　　垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节

• 干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率
• 工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据，为日渐苛刻的加工工艺提供保障

　　测量数据的快速获取保证了测试准备时间

• 最少的样品准备时间和测量准备时间
• 比接触法测量(一条线)更大的视场(一个面)获得表面更多的数据