-
NT9100产品手册 发布时间:2015-11-15
这个新的Wyko NT9100 光学轮廓系统传承了第九代NT9000系统的许多优点,包括:容易的测量设定,快速的数据集成,扩充的广泛的数据分析,并且其重复性可以达到埃的量级。增加了载物台的自动驱动功能,还可以支持软件扫描更大的样品表面;还增加了一个自动控制的X-Y载物台的可选功能,这使NT9100有
-
扫描探针和AFM原子力显微镜:技术综述和更新2008 发布时间:2015-11-15
Scanning Probe/Atomic Force Microscopy: Technology Overview and UpdateScanning probe microscopes (SPMs) are instruments that measure properties of sur
-
Multimode产品手册 发布时间:2015-11-15
MultiMode SPM是世界上分辨率最高,使用最广泛的商用扫描探针显微镜(SPM),友好的用户操作界面,功能强大的软件系统和紧凑的硬件结构,使得MULTIMODE可以轻松获取从微米尺度到原子尺度的图像数据。极高的工作效率,极强的灵活性和可靠性
-
用AFM探测纳米尺度的力 发布时间:2015-11-15
Probing Nano-Scale Forces with the Atomic Force MicroscopeThe ability of the atomic force microscope (AFM) to create three-dimensional micrographs wit
-
在NanoScope控制器上的三重DAC配置,超强控制、分辨率和灵活性 发布时间:2015-11-15
Triple DAC Configuration in NanoScope ® Controllers, Superior Control, Resolution, and FlexibilityThe DAC configuration is an integral part of a
-
MultiMode-8 HR-中文彩页 发布时间:2014-02-27
MultiMode 8 高分辨扫描探针显微镜 快速自动扫描成像技术,功能更完善,表现更卓越 MultiMode®是世界上最受欢迎的扫描探针显微镜,得到客户的高度认可,迄今为止数以万计的MultiMode®扫描探针显微镜已经在全球成功安装使用。其世界领先的超高分辨率,
-
Innova-SPM-中文彩页 发布时间:2014-02-27
Innova — 性能卓越,数据可靠 Innova扫描探针显微镜(SPM)具有很高的分辨率,实用性强,从器件表征到物理化学、生命科学、材料科学等方面都有广泛应用。这是一套高效简易的装置,仪器成本合理,适用于尖端科学研究。Innova具有独特的闭环扫描线性化系统,确保测量准确性,而且维持
-
Dimension FastScan Bio AFM 发布时间:2014-02-27
Atomic force microscopy has been gaining an incredible amount of interest among today’s leading life science researchers and educators, both du
-
Dimension FastScan-英文彩页 发布时间:2014-02-27
Stimulated by AFM users’ need for greater AFM efficiency, Bruker set out to develop a system that could scan fast without loss of resolution, l
-
FastScan-Bio中文彩页 发布时间:2014-02-27
Dimension FastScan Bio —全新的AFM标准 Dimension FastScan Bio™ 原子力显微镜 (AFM) 使的时间分辨率可达每秒3帧的活体样品观察的生物动力学高分辨研究成为可能。此外,它的出现使AFM操作比以往更为容易。 如今,原子力显微镜
-
Dimension FastScan-中文彩页 发布时间:2014-02-27
Dimension FastScan 世界上扫描速度最快的原子力显微镜 为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨率,不增加设备复杂性,不影响仪器操作成本的前提下,帮助用户实现了利用 Dimension快速扫描系统,即时得到高分辨质量 AFM图像的
-
新一代Dimension系列大样品台原子力显微镜 发布时间:2014-02-27
Dimension Icon 新一代Dimension系列大样品台原子力显微镜 终极性能,表现卓越 快速检测,数据可靠 操作简单,迅速掌握 一个平台,无限可能 Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的AFM应用体验
-
Dimension Edge原子力显微镜 发布时间:2014-02-27
Dimension Edge 配备 ScanAsyst智能成像模式 Dimension® Edge™ 原子力显微镜采用最新PeakForce Tapping™技术, 其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于最高水平。基于Dimension Icon®平台
-
NPFLEX 3D Surface Metrology System 发布时间:2014-02-24
NPFLEX 3D Surface Metrology System for Large-Sample, Non-Contact Measurement & Analysis • Characterize Large Shapes and Critical Angles &mda
-
NPFLEX 三维表面测量系统 发布时间:2014-02-24
NPFLEX 三维表面测量系统 针对大样品设计的非接触测试分析系统 灵活测量大尺寸、特殊角度的样品高效的三维表面信息测量垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节快速获取测量数据,测试过程迅速高效 布鲁克的NP FLEXFLEXFLEX TM 3D 表表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测能力, 布鲁
-
LumiMap Electroluminescence System 发布时间:2014-02-24
LumiMap Electroluminescence System HB-LED Epitaxial Inspection for R&D and Production The LumiMap Electroluminescence System integrates epi wafer
-
Dektak XTL 探针式表面轮廓仪(Stylus Profiler System) 发布时间:2014-02-21
Dektak XTL Stylus Profiler System Gage-Capable QA/QC Profiling for Optimal 300mm Performance Dektak XTL Stylus Profiler System Bruker’s new Dek
-
DektakXT 第十代探针式表面轮廓仪-英文介绍 发布时间:2014-02-21
Bruker’s DektakXT™ Stylus Profiler features a revolutionary design that enables unmatched repeatability that is better than 5 angstroms.
-
DektakXT 第十代探针式表面轮廓仪 发布时间:2014-02-21
DektakXT 功能卓越,极致表现 布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)设计 创新,实现了更高的重复性和分辨率,垂直高度重复性 高达5Å。这项测量性能的提高,达到了过去四十年 Dektak体系技术创新的顶峰,更加稳固了其行业中的领 先地位。不论应用于研发还是产品测量,
-
ContourGT-X-Datasheet-英文彩页 发布时间:2014-02-20
ContourGT-X 3D Optical Microscope Automated, Gage-Capable Metrology for R&D and Production The fully automated, large-sample ContourGT-X 3D Optic