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微区XRF用于电子工业的品质控制和缺陷分析
发布时间：
2016-09-30 13:55
来源：
HORIBA科学仪器事业部
| 领域： | 电子/电器/半导体 | ||
| 样品： | 树脂嵌入式芯片，柔性电路板，多层印刷版 | 项目： | 品质控制，缺陷分析 |
| 方案文件名 | 下载 |
|---|---|
微区XRF用于电子工业的品质控制和缺陷分析 |
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The XGT-5000 offers a fast, non-destructive technique for elemental mapping and transmitted x-ray analysis, and as such is a particularly useful tool for internal analysis of electronic components.
The ground breaking mono-capillary X-ray Guide Tube technology (HORIBA patent) provides high intensity beams with optimised collimation and diameters down to 10 µm, allowing even the smallest electronic features to be analysed.
