HORIBA科学仪器事业部
400-6699-117转1000
热门搜索：
黄金会员
诚信认证:
工商注册信息已核实！
扫一扫即可访问手机版展台
扫一扫，加入掌上光谱学堂
扫一扫，加入掌上光谱学堂
表征非晶碳薄膜的厚度和光学常数
发布时间：
2016-09-15 16:41
来源：
HORIBA科学仪器事业部
| 领域： | 其他生命科学 | ||
| 样品： | 非晶碳薄膜 | 项目： | 厚度，光学常数 |
| 方案文件名 | 下载 |
|---|---|
表征非晶碳薄膜的厚度和光学常数 |
下载此篇方案 |
The UVISEL Spectroscopic Ellipsometer is the ideal tool for reliable film thickness and optical constants characterization of amorphous carbon coatings, even in difficult cases where the film thickness is very thin. Roughness, and interface “adhesion” can also been determined.
