HORIBA科学仪器事业部
400-6699-117转1000
热门搜索：
分析测试百科网 > HORIBA Scientific > 应用文献 > Depth Profile analysis of organic and organic/inorganic multilayered materials by pulsed RF GDOES
黄金会员
诚信认证:
工商注册信息已核实！
扫一扫即可访问手机版展台
扫一扫，加入掌上光谱学堂
扫一扫，加入掌上光谱学堂
Depth Profile analysis of organic and organic/inorganic multilayered materials by pulsed RF GDOES
发布时间：
2016-08-15 10:57
来源：
HORIBA科学仪器事业部
| 领域： | 纳米材料,高分子材料,其他 | ||
| 样品： | Nylon-6,PVDC,PE | 项目： | GD-OES(Depth Profile) |
| 参考： | Patent EP20110306147,etc. | ||
| 方案文件名 | 下载 |
|---|---|
Depth Profile analysis of organic and organic/inorganic multilayered materials by pulsed RF GDOES |
下载此篇方案 |
Some applications of pulsed RF GDOES for the analysis of organic and organic/inorganic films are described highlighting the potentialities of the technique in this domain.脉冲式射频操作模式是新、先进且灵活的分析模式，它适用于所有材料。UFS专利技术可对聚合物分子层进行超快速溅射，不仅增强了信噪比而且能够在超高深度分辨率下测试包埋在厚聚合物下的镀层。
