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PP-TOFMS Depth Profiling of ZnO Thin layers co-doped with Rare Earths for Photonic Materials
发布时间：
2016-08-12 10:57
来源：
HORIBA科学仪器事业部
| 领域： | 电子/电器/半导体 | ||
| 样品： | ZnO Thin layers co-doped with Rare Earths | 项目： | GD-OES(PP-TOFMS Depth Profiling)，Structural Properties，Thickness and Optical Properties |
| 参考： | [1]The Rare Earth Elements: Fundamentals and Applications, David A. Atwood, John Wiley & Sons, 2013.,[2] Andries Maijerink, Lanthanide Ions as Photon Managers for Solar Cells, Material Matters, 6 (4) 113 (2011). | ||
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PP-TOFMS Depth Profiling of ZnO Thin layers co-doped with Rare Earths for Photonic Materials |
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