HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪

SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具，如颗粒粒径、zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定；还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。

SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。

·  同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数

·  宽检测范围，宽浓度范围——样品浓度可达40%

·  自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

·  软件操作简单功能强大，一键测量

·  双光路双角度粒径测量（90° 和173°）

·  采用微量样品池

粒径测量原理：动态光散射法（光子相关光谱法）

粒径测定范围：0.3nm ～10μm

粒径测量精度：±2%（NIST 可溯源标准粒子100nm）

Zeta 电位测量原理：激光多普勒电泳法

Zeta 电位测量范围：-500 mV ～ +500 mV

分子量测量原理：Debye plot

分子量测量范围：1000 ～ 2×107 Da

测量角度：90° 和173°（可自动或手动选择）

样品量：12μL ～ 1000μL

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途